Всестороннее и краткое изложение проблемы электростатического разряда
Эта книга предлагает исчерпывающий и лаконичный анализ широкого спектра проблем, связанных с электростатическим разрядом (ЭСР). Первое издание было названо специалистами «самым основательным и кратким изложением проблематики ЭСР». Теперь, в третьем издании, книга сохраняет тот же надежный подход, одновременно включая недавние технологические достижения в области инженерии.
Книга начинается с основ ЭСР для людей и объектов, а затем переходит к освещению таких тем, как: влияние ЭСР на электронику, основные спецификации ЭСР, диагностика и тестирование ЭСР, проектирование для повышения стойкости к ЭСР.
Для помощи в поиске и устранении неисправностей приводится множество реальных случаев ЭСР вместе с успешными способами их решения. Книга Electrostatic Discharge незаменима для всех разработчиков, желающих избежать отказов компонентов, проблем типа "no trouble found" и случайных ошибок.
Электронная Книга «Electro Static Discharge» написана автором Michel Mardiguian в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9780470495063
Описание книги от Michel Mardiguian
A thorough and concise treatment of ESD Recognizing its methodic, step-by-step attack of the electrostatic discharge (ESD) problem, the initial release of this book was quoted by specialists as «the most thorough and concise treatment of the broad ESD continuum that is available.» Now in its Third Edition, this book delivers the same trusted coverage of the topic while also incorporating recent technological advances that have taken place in the engineering community. The book begins with the basics of ESD for humans and objects, and goes on to cover: Effects of ESD coupled to electronics Principal ESD specifications ESD diagnostics and testing Design for ESD immunity To help with troubleshooting, many ESD case histories are given along with their successful fixes. Electrostatic Discharge is essential reading for all designers who want to avoid component failures, no trouble found incidents, and random errors.
