X-Ray Diffraction by Polycrystalline Materials - Rene Guinebretiere

Книга Рене Гиньебретье "Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических материалах" представляет собой физический подход к изучению явления дифракции и его применениям в материаловедении. В начальном разделе представлен исторический обзор открытия дифракционной кристаллической структуры.

Первая часть книги описывает физическое явление рентгеновской дифракции на совершенных и несовершенных кристаллах. Во второй части подробно анализируются инструменты, используемые для изучения порошковых материалов или тонких пленок. Также говорится и о работе с измеренными сигналами, полученных результатах анализа материалов.

Заслуживает внимание также изучение последних разработок по количественному микроструктурному анализу порошковых или эпитаксиальных тонких материалов на основе рентгеновской диффузии.

Электронная Книга «X-Ray Diffraction by Polycrystalline Materials» написана автором Rene Guinebretiere в году.

Минимальный возраст читателя: 0

Язык: Английский

ISBN: 9780470394533

This book presents a physical approach to the diffraction phenomenon and its applications in materials science. An historical background to the discovery of X-ray diffraction is first outlined. Next, Part 1 gives a description of the physical phenomenon of X-ray diffraction on perfect and imperfect crystals. Part 2 then provides a detailed analysis of the instruments used for the characterization of powdered materials or thin films. The description of the processing of measured signals and their results is also covered, as are recent developments relating to quantitative microstructural analysis of powders or epitaxial thin films on the basis of X-ray diffraction. Given the comprehensive coverage offered by this title, anyone involved in the field of X-ray diffraction and its applications will find this of great use.