Эта книга, основанная на широко известной серии «Материаловедение и технология», дает подробное описание сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), атомно-силовой микроскопии (АСМ) и других бесконтактных наномасштабных зондов, а также их применения, например, для манипуляций атомами и кластерами в нанометровом масштабе. Методы описаны с точки зрения физики и технологии, а многочисленные высококачественные изображения демонстрируют возможности этих методов для исследования поверхностей и процессов на них. Освещаются такие темы, как: поверхности и границы раздела полупроводников, диэлектриков, слоистых соединений, систем с зарядовой плотностью волн, сверхпроводников, электрохимия на границе жидкость-твердое тело, биологические системы, метрологические применения, наномасштабные поверхностные силы, нанотрибология, манипуляции в наномасштабе. Книга будет полезна материаловедам, специалистам по поверхностям, электрохимикам, а также ученым, работающим в области катализа и микроэлектроники.
Отмеченная наградами серия в области науки и технологий нового поколения посвящена сканирующей туннельной микроскопии, атомно-силовой микроскопии и смежным методам зондовой нанотехнологии. Описаны исследования поверхностей и процессов, происходящих на них, приводятся качественные изображения, демонстрирующие возможности методов. Показана важность рассмотрения обширного материала в свете технической и физической основы применяемых методик. Для ученых-материаловедов, химиков, специалистов в области поверхности и науки о жизни. Элементный уровень содержит информацию о полупроводниках, диэлектриках, слоистых веществах, системах с переносом плотности заряда, сверхпроводниках, электрохимии на границах жидкость-твердое вещество, биологических системах, измерительных приложениях, поверхностных силах на наноуровне, трибологии на наноуровне и манипуляциях на наноуровне. Исследователи из области материаловедения, наука о поверхности, электрохимия, а также ученые, рассматривающие катализ и микроэлектронику, найдут эту книгу ценным источником информации.
Электронная Книга «Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces» написана автором N. DiNardo John в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9783527615940
Описание книги от N. DiNardo John
Derived from the highly acclaimed series Materials Science and Technology, this book provides in-depth coverage of STM, AFM, and related non-contact nanoscale probes along with detailed applications, such as the manipulation of atoms and clusters on a nanometer scale. The methods are described in terms of the physics and the technology of the methods and many high-quality images demonstrate the power of these techniques in the investigation of surfaces and the processes which occur on them. Topics include: Semiconductor Surfaces and Interfaces * Insulators * Layered Compounds * Charge Density Wave Systems * Superconductors * Electrochemisty at Liquid-Solid Interfaces * Biological Systems * Metrological Applications * Nanoscale Surface Forces * Nanotribology * Manipulation on the Nanoscale Materials scientists, surface scientists, electrochemists, as well as scientists working in catalysis and microelectronics will find this book an invaluable source of information
