Книга "Unified Optical Scanning Technology" - это комплексный обзор различных аспектов и дисциплин оптического сканирования от награжденного лидера в этой области. Она представляет собой подробное описание технологии и объединяющих принципов, включая активное и пассивное сканирование, оптический трансфер и архитектуру системы сканирования. Книга также содержит глубокие главы об общей теории и процессах сканирования, разрешении, устройствах и техниках сканирования, а также о контроле смещения луча сканера. Особое внимание уделяется обзору исследований правительства по гибкой управляемости луча, которые теперь готовы к коммерческому применению. Кроме того, книга уделяет особое внимание инварианту Лагранжа и его влиянию на разрешение сканирования. Эта книга будет полезна как практикующим специалистам, так и студентам.
Представляет собой полностью интегрированный обзор многих аспектов и дисциплин оптической сканирования. Для практиков и студентов особенно полезны такие моменты как: Обзор технологий и объединяющих принципов, включая активное и пассивное сканирование, оптическую передачу и системную архитектуру Глубокие главы по теории сканирования и процессов, разнице в разрешении сканера, сканирующих приборов и техник и управления ошибочным размещением луча Всесторонний обзор спонсируемого правительством исследования быстрой регулировкой луча, теперь подготовленного для коммерческой адаптации Уникальное акцентирование Лагранжева инварианта и его показывающего разрешение инвариантного.
Электронная Книга «Unified Optical Scanning Technology» написана автором Leo Beiser в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9780471431411
Описание книги от Leo Beiser
Written by an award-winning leader in the field, this is a thoroughly integrated overview of the many facets and disciplines of optical scanning. Of particular utility to both practitioner and student are such features as: An overview of the technology and unifying principles, including active and passive scanning, optical transfer, and system architecture In-depth chapters on scanning theory and processes, scanned resolution, scanner devices and techniques, and the control of scanner beam misplacemen A comprehensive review of the government-sponsored research of agile beam steering, now primed for commercial adaptation A unique focus on the Lagrange invariant and its revealing resolution invariant
