Это третье издание обновляет классический текст последними открытиями. Третье издание международно признанной книги «Характеристика материалов и приборов полупроводников» полностью обновляет текст последними достижениями в этой области и включает новые педагогические инструменты для помощи читателям. Это издание не только излагает все новейшие методы измерений, но также рассматривает новые интерпретации и применения существующих методов. Книга остается единственным текстом, посвященным методам характеризации для измерения материалов и приборов полупроводников. Охватываются все методы электрической и оптической характеризации, включая более специализированные химические и физические методы.
Читатели, знакомые с предыдущими двумя изданиями, найдут полностью пересмотренное и обновленное третье издание, включающее: обновленные и переработанные рисунки и примеры, отражающие последние данные и информацию; 260 новых ссылок для доступа к последним исследованиям и обсуждениям в специализированных областях; новые задачи и вопросы для проверки понимания материала в конце каждой главы.
Кроме того, читатели найдут полностью обновленные и переработанные разделы в каждой главе. Также добавлены две новые главы: "Характеризация на основе заряда" и "Зондовая характеризация" знакомит с методами измерений на основе заряда и зондами Кельвина. Эта глава также рассматривает зондовые измерения, включая сканирующую емкость, сканирующую силу Кельвина, сканирующее сопротивление растекания и микроскопию эмиссии электронов. Глава "Надежность и анализ отказов" исследует времена отказов и функции распределения, а также обсуждает электромиграцию, горячие носители, пробой окисного слоя, инстабильность при отрицательном смещении температуры, ток утечки, индуцированный напряжением, и электростатический разряд.
Книга написана международно признанным экспертом в этой области и остается важным чтением как для аспирантов, так и для специалистов, работающих в области полупроводниковых материалов и приборов.
Электронная Книга «Semiconductor Material and Device Characterization» написана автором Dieter Schroder K. в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9780471749080
Описание книги от Dieter Schroder K.
This Third Edition updates a landmark text with the latest findings The Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers. Not only does the Third Edition set forth all the latest measurement techniques, but it also examines new interpretations and new applications of existing techniques. Semiconductor Material and Device Characterization remains the sole text dedicated to characterization techniques for measuring semiconductor materials and devices. Coverage includes the full range of electrical and optical characterization methods, including the more specialized chemical and physical techniques. Readers familiar with the previous two editions will discover a thoroughly revised and updated Third Edition, including: Updated and revised figures and examples reflecting the most current data and information 260 new references offering access to the latest research and discussions in specialized topics New problems and review questions at the end of each chapter to test readers' understanding of the material In addition, readers will find fully updated and revised sections in each chapter. Plus, two new chapters have been added: Charge-Based and Probe Characterization introduces charge-based measurement and Kelvin probes. This chapter also examines probe-based measurements, including scanning capacitance, scanning Kelvin force, scanning spreading resistance, and ballistic electron emission microscopy. Reliability and Failure Analysis examines failure times and distribution functions, and discusses electromigration, hot carriers, gate oxide integrity, negative bias temperature instability, stress-induced leakage current, and electrostatic discharge. Written by an internationally recognized authority in the field, Semiconductor Material and Device Characterization remains essential reading for graduate students as well as for professionals working in the field of semiconductor devices and materials. An Instructor's Manual presenting detailed solutions to all the problems in the book is available from the Wiley editorial department.
