Книга "Взаимодействие электронного луча с образцом и методы моделирования в микроскопии" представляет подробное изложение физики взаимодействия электронного луча с образцом. Метод электронной микроскопии является одним из наиболее широко используемых методов характеризации в материаловедении, физике, химии и биологии. В книге рассматриваются основные принципы взаимодействия электронного луча и образца, являющиеся фундаментальной основой для всех методов электронной микроскопии. Подробно объясняются основные концепции, чтобы усилить понимание, и представлены новые темы, находящиеся в центре современных исследований. Книга предоставляет читателям более глубокие знания по данной теме, особенно если они намерены моделировать взаимодействие электронного луча с образцом в своих исследовательских проектах. В книге рассматриваются большинство распространенных методов электронной микроскопии. Некоторые более продвинутые темы (кольцевое поле яркости и изображение атомов примесей, химический анализ с атомным разрешением, измерения ширины запрещенной зоны) предоставляют дополнительную ценность, особенно для читателей, имеющих доступ к передовым инструментам, таким как микроскопы с коррекцией аберрации и монохроматические микроскопы. "Взаимодействие электронного луча с образцом и методы моделирования в микроскопии" предлагает просвещающий материал, включающий: метод Монте-Карло; многослоевое моделирование; волны Блоха в классической и аналитической пропускной электронной микроскопии; волны Блоха в растровой пропускной электронной микроскопии; потери малой энергии и ядерные потери в спектроскопии электронов с потерями энергии. Каждая глава сопровождается наглядными диаграммами, а в конце книги представлены приложения, помогающие разобраться в предварительных понятиях. Книга подробно представляет физику взаимодействия электронного луча с образцом. Каждая глава сначала обсуждает физические основы, а затем переходит к методам моделирования. Используются компьютерные программы для моделирования взаимодействия электронного луча с образцом (представленные в виде кейс-стади). Включает актуальные темы, возникшие благодаря прогрессу в области приборов (в частности, микроскопов с коррекцией аберрации и монохроматических микроскопов). Книга "Взаимодействие электронного луча с образцом и методы моделирования в микроскопии" будет полезна студентам, обучающимся в высших учебных заведениях, практикующим электронным микроскопистам, желающим углубить свои знания в данной области, а также исследователям, стремящимся получить более глубокое понимание предмета для своих собственных работ.
Эта книга предоставляет подробное представление о физике взаимодействия электронного пучка и образца. Электронную микроскопию широко используют в материаловедении, физике, химии и биологических науках. Здесь рассматривается взаимодействие электронного пучка со всеми объектами исследования: от изучения структуры биомолекул до необычных эффектов в сверхбыстрых экспериментальных установках. В книге представлен подробный анализ, который позволит читателю лучше понимать предмет и использовать полученные знания при изучении и моделировании процесса взаимодействия света и материи на атомном уровне. Владение этими знаниями важно для студентов и ученых, занимающихся исследованиями в области электронной микроскопии. Каждая глава начинается с введения в основные принципы с последующим рассмотрением методов моделирования и их практического применения в виде примеров. Эта книга является актуальной для выпускников университетов, исследователей и опытных специалистов, кому интересно узнать больше об используемых обычно и новейших методах электронной микроскопии диагностики, диагностики и исследований.
Электронная Книга «Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy» написана автором Budhika Mendis G. в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9781118696552
Описание книги от Budhika Mendis G.
A detailed presentation of the physics of electron beam-specimen interactions Electron microscopy is one of the most widely used characterisation techniques in materials science, physics, chemistry, and the life sciences. This book examines the interactions between the electron beam and the specimen, the fundamental starting point for all electron microscopy. Detailed explanations are provided to help reinforce understanding, and new topics at the forefront of current research are presented. It provides readers with a deeper knowledge of the subject, particularly if they intend to simulate electron beam-specimen interactions as part of their research projects. The book covers the vast majority of commonly used electron microscopy techniques. Some of the more advanced topics (annular bright field and dopant atom imaging, atomic resolution chemical analysis, band gap measurements) provide additional value, especially for readers who have access to advanced instrumentation, such as aberration-corrected and monochromated microscopes. Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy offers enlightening coverage of: the Monte-Carlo Method; Multislice Simulations; Bloch Waves in Conventional and Analytical Transmission Electron Microscopy; Bloch Waves in Scanning Transmission Electron Microscopy; Low Energy Loss and Core Loss EELS. It also supplements each chapter with clear diagrams and provides appendices at the end of the book to assist with the pre-requisites. A detailed presentation of the physics of electron beam-specimen interactions Each chapter first discusses the background physics before moving onto simulation methods Uses computer programs to simulate electron beam-specimen interactions (presented in the form of case studies) Includes hot topics brought to light due to advances in instrumentation (particularly aberration-corrected and monochromated microscopes) Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy benefits students undertaking higher education degrees, practicing electron microscopists who wish to learn more about their subject, and researchers who wish to obtain a deeper understanding of the subject matter for their own work.
