Александр Мицо в своей книге “Digital Logic Testing and Simulation” предлагает читателю подробный обзор современных методов тестирования цифровых логических устройств. Книга предназначена для специалистов, занимающихся разработкой и тестированием сложных электронных устройств, таких как системы безопасности, транспортные средства и имплантируемые медицинские устройства.
В книге подробно описаны различные методы тестирования, их преимущества и недостатки, а также приводятся примеры из реальной практики. Автор описывает, как тестирование влияет на надежность, безопасность и производительность устройства, и объясняет, почему тестирование является критически важным для современного цифрового мира.
Книга написана доступным языком и содержит множество примеров и иллюстраций, которые помогают читателю лучше понять материал. Она будет полезна как начинающим, так и опытным специалистам в области цифровой логики и электроники.
Эта книга станет для вас путеводителем по современным вызовам в сфере тестирования цифровой электроники. Изделия на основе цифровой логики сегодня нашли широкое применение в системах безопасности, включая транспорт и медицину. Обеспечение точности тестирования стало ключевым аспектом для обеспечения их надежности и безопасности. Однако по мере роста числа и сложности цифровых систем задача тестирования усложняется. Разработчики однокристальных систем подтверждают, что «… объем работы, требуемый для… тестирования чипа таких размеров, приблизился к объему работы, необходимому для его разработки». Хорошо известное издание, которое уже на протяжении почти 20 лет является ценным справочным руководством, было полностью переработано и дополнено для инженеров-разработчиков и специалистов по тестированию, сталкивающихся с этими вызовами. Удивительно, но у проблемы тестирования нет универсального решения. В последовательной структуре, удобной для восприятия, книга знакомит читателя с различными стратегиями тестирования и областями их применения, наряду с оценкой сильных и слабых сторон различных подходов. Издание рассматривает основные строительные блоки успешной стратегии тестирования и помогает читателю определиться с выбором оптимального решении для конкретного случая. Digital Logic: Testing and Simulation Second Edition охватывает такие ключевые темы, как: • Бинарные деревья решений (Binary Decision Diagram - BDD) и симуляция на основе временных циклов; • Архитектура тестировщиков, язык для стандартного интерфейса тестирования (Standard Test Interface - Language, STIL); • Практические алгоритмы, написанные на языке проектирования электроники (Hardware Description Language - HDL); • Устойчивость к ошибкам; • Алгоритмическое автоматическое формирование тестовых шаблонов (Automatic Test Pattern Generator - ATPG); • Разработка алгоритма «Эксперт проектирования тестов» (Test Design Expert - TDX), многочисленные трудности и уроки, извлеченные при создании этого нового подхода к тестированию. Данное издание соответствует сегодняшним требованиям и является исчерпывающим ресурсом для всех, кто отвечает за поиск дефектной продукции и обеспечение качества, безопасности и экономической эффективности.
Электронная Книга «Digital Logic Testing and Simulation» написана автором Alexander Miczo в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9780471457770
Описание книги от Alexander Miczo
Your road map for meeting today's digital testing challenges Today, digital logic devices are common in products that impact public safety, including applications in transportation and human implants. Accurate testing has become more critical to reliability, safety, and the bottom line. Yet, as digital systems become more ubiquitous and complex, the challenge of testing them has become more difficult. As one development group designing a RISC stated, «the work required to . . . test a chip of this size approached the amount of effort required to design it.» A valued reference for nearly two decades, Digital Logic Testing and Simulation has been significantly revised and updated for designers and test engineers who must meet this challenge. There is no single solution to the testing problem. Organized in an easy-to-follow, sequential format, this Second Edition familiarizes the reader with the many different strategies for testing and their applications, and assesses the strengths and weaknesses of the various approaches. The book reviews the building blocks of a successful testing strategy and guides the reader on choosing the best solution for a particular application. Digital Logic Testing and Simulation, Second Edition covers such key topics as: * Binary Decision Diagrams (BDDs) and cycle-based simulation * Tester architectures/Standard Test Interface Language (STIL) * Practical algorithms written in a Hardware Design Language (HDL) * Fault tolerance * Behavioral Automatic Test Pattern Generation (ATPG) * The development of the Test Design Expert (TDX), the many obstacles encountered and lessons learned in creating this novel testing approach Up-to-date and comprehensive, Digital Logic Testing and Simulation is an important resource for anyone charged with pinpointing faulty products and assuring quality, safety, and profitability.
