Semiconductor Laser Engineering, Reliability and Diagnostics. A Practical Approach to High Power and Single Mode Devices - Peter Epperlein W.

Эта справочная книга предлагает полностью интегрированный новаторский подход к разработке высокомощных одномодовых лазерных диодов с испусканием из края за счет охвата взаимодополняющих тем инженерии приборов, инженерии надежности и диагностики приборов в одной книге, и таким образом закрывает пробел в существующей книжной литературе. Обсуждаются основы лазерных диодов, за которыми следует подробное обсуждение ориентированных на решение проблем рекомендаций и методик проектирования, а также систематическое рассмотрение истоков деградации лазера и тщательное исследование инженерных средств повышения оптической прочности лазера. Обсуждаются критерии стабильности критических характеристик лазера и ключевые факторы надежности лазера наряду с четкими соображениями проектирования в контексте подходов и моделей инженерии надежности, а также типичных программ испытаний надежности и квалификации лазерных изделий. Рассматриваются новые передовые методы диагностики для обсуждения впервые в книжной литературе в таких подробностях факторов, влияющих на производительность и надежность, таких как температура, напряжение и нестабильность материалов. Другие ключевые особенности включают: практические рекомендации по проектированию, которые также учитывают эффекты, связанные с надежностью, ключевые факторы надежности лазера, основные вопросы изготовления и упаковки лазеров; подробное обсуждение диагностических исследований лазерных диодов, основ применяемых подходов и методик, многие из которых были разработаны автором для решения конкретных задач и являются новыми в применении; систематическое понимание режимов деградации лазера, таких как катастрофическое оптическое повреждение, и широкий спектр технологий для увеличения оптической прочности лазерных диодов; охват основных концепций и методов инженерии надежности лазера с подробностями о стандартной коммерческой программе испытаний надежности лазера высокой мощности.

Semiconductor Laser Engineering, Reliability and Diagnostics отражает обширный опыт автора в области лазерных диодных технологий как ведущего научного исследователя и ключевого разработчика высокомощных высоконадежных устройств. С неоценимыми практическими советами эта новая справочная книга предназначена для практикующих исследователей в области лазерных диодных технологий и для аспирантов технических специальностей.

Доктор Петер В. Эпперлейн является технологическим консультантом со своим собственным консалтинговым бизнесом в области полупроводниковых технологий Pwe-PhotonicsElectronics-IssueResolution в Великобритании. Он оглядывается на тридцатилетнюю карьеру в передовой фотонике и электронных отраслях промышленности, сосредоточенную на новых технологиях как в глобальных, так и в стартап компаниях, включая IBM, Hewlett-Packard, Agilent Technologies, Philips/NXP, Essient Photonics и IBM/JDSU Laser Enterprise. Он имеет степени Pre-Dipl. (B.Sc.), Dipl. Phys. (M.Sc.) и Dr. rer. nat. (Ph.D.) по физике с отличием из Университета Штутгарта, Германия.

Доктор Эпперлейн является признанным во всем мире экспертом в области технологий полупроводниковых лазеров и светодиодов. Он проводил НИОКР во многих областях приборов, таких как полупроводниковые лазеры, светодиоды, оптические модуляторы, квантоворазмерные устройства, туннельные диоды, ПТШ и сверхпроводниковые туннельные переходы и интегральные схемы. Его новаторская работа по сложным диагностическим исследованиям привела ко многим первым в мире отчетам и была принята другими исследователями в академических кругах и промышленности. Он является автором более семидесяти рецензируемых журнальных статей, опубликовал более десяти раскрытий изобретений в IBM Technical Disclosure Bulletin, выступал рецензентом многочисленных предложений для публикации в технических журналах и выиграл пять наград IBM Research Division Awards. К его ключевым достижениям относится проектирование и изготовление высокомощных одномодовых лазерных диодов с высокой надежностью.

В этой книге представлен полностью интегрированный современный подход к разработке мощных лазеров с диодами с одним поперечным режимом излучения, расположенных по краям, объединяющий темы: инженерное оборудование, надежность и диагностику устройств в одной и той же книге, что заполняет разрыв в текущей научной литературе. Обсуждаются основы диодных лазеров, затем подробно излагаются ориентированные на проблемы принципы проектирования и техники, и системно обсуждаются источники ухудшения параметров лазера и основательные подходы к улучшению оптической мощности лазера. Также обсуждается устойчивость критериев важнейших характеристик лазера и ключевые факторы для обеспечения его надежности, а также типичные программы для проверки лазерных изделий и их соответствия требованиям. Пересмотрены передовые методы диагностики, чтобы впервые подробно рассмотреть влияющие на производительность и надежность факторы, такие как температура, напряжение и материалы. Среди других особенностей: практические принципы проектирования, которые учитывают также влияние на надежность, ключевые факторы его надежной работы, основные вопросы формирования и упаковывания лазеров; подробные обзоры исследований диодных лазеров с помощью различных методов диагностики, основ применимых методов и техник, многие оригинальные из которых были разработаны автором; погружение в процессы ухудшения лазера, такие, как катастрофическое повреждение оптики, и широкий спектр технологий для увеличения оптической силы лазеров на основе диодов; обзор основных концепций и методик надежности лазеров с деталями стандартной коммерческой программы проверки надежности мощного лазера высокой мощности.

Электронная Книга «Semiconductor Laser Engineering, Reliability and Diagnostics. A Practical Approach to High Power and Single Mode Devices» написана автором Peter Epperlein W. в году.

Минимальный возраст читателя: 0

Язык: Английский

ISBN: 9781118481875


Описание книги от Peter Epperlein W.

This reference book provides a fully integrated novel approach to the development of high-power, single-transverse mode, edge-emitting diode lasers by addressing the complementary topics of device engineering, reliability engineering and device diagnostics in the same book, and thus closes the gap in the current book literature. Diode laser fundamentals are discussed, followed by an elaborate discussion of problem-oriented design guidelines and techniques, and by a systematic treatment of the origins of laser degradation and a thorough exploration of the engineering means to enhance the optical strength of the laser. Stability criteria of critical laser characteristics and key laser robustness factors are discussed along with clear design considerations in the context of reliability engineering approaches and models, and typical programs for reliability tests and laser product qualifications. Novel, advanced diagnostic methods are reviewed to discuss, for the first time in detail in book literature, performance- and reliability-impacting factors such as temperature, stress and material instabilities. Further key features include: practical design guidelines that consider also reliability related effects, key laser robustness factors, basic laser fabrication and packaging issues; detailed discussion of diagnostic investigations of diode lasers, the fundamentals of the applied approaches and techniques, many of them pioneered by the author to be fit-for-purpose and novel in the application; systematic insight into laser degradation modes such as catastrophic optical damage, and a wide range of technologies to increase the optical strength of diode lasers; coverage of basic concepts and techniques of laser reliability engineering with details on a standard commercial high power laser reliability test program. Semiconductor Laser Engineering, Reliability and Diagnostics reflects the extensive expertise of the author in the diode laser field both as a top scientific researcher as well as a key developer of high-power highly reliable devices. With invaluable practical advice, this new reference book is suited to practising researchers in diode laser technologies, and to postgraduate engineering students. Dr. Peter W. Epperlein is Technology Consultant with his own semiconductor technology consulting business Pwe-PhotonicsElectronics-IssueResolution in the UK. He looks back at a thirty years career in cutting edge photonics and electronics industries with focus on emerging technologies, both in global and start-up companies, including IBM, Hewlett-Packard, Agilent Technologies, Philips/NXP, Essient Photonics and IBM/JDSU Laser Enterprise. He holds Pre-Dipl. (B.Sc.), Dipl. Phys. (M.Sc.) and Dr. rer. nat. (Ph.D.) degrees in physics, magna cum laude, from the University of Stuttgart, Germany. Dr. Epperlein is an internationally recognized expert in compound semiconductor and diode laser technologies. He has accomplished R&D in many device areas such as semiconductor lasers, LEDs, optical modulators, quantum well devices, resonant tunneling devices, FETs, and superconducting tunnel junctions and integrated circuits. His pioneering work on sophisticated diagnostic research has led to many world’s first reports and has been adopted by other researchers in academia and industry. He authored more than seventy peer-reviewed journal papers, published more than ten invention disclosures in the IBM Technical Disclosure Bulletin, has served as reviewer of numerous proposals for publication in technical journals, and has won five IBM Research Division Awards. His key achievements include the design and fabrication of high-power, highly reliable, single mode diode lasers. Book Reviews “Semiconductor L



Похожие книги

Информация о книге

  • Рейтинг Книги:
  • Автор: Peter Epperlein W.
  • Категория: Техническая литература
  • Тип: Электронная Книга
  • Язык: Английский
  • Издатель: John Wiley & Sons Limited
  • ISBN: 9781118481875