Книга "Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия" представляет собой курс лекций, посвященных изучению основных принципов динамической теории, геометрических аспектов формирования изображений и дифракционной теории контраста на дефектах в различных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и схема Лауэ. В книге приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для лучшего понимания материала авторы использовали большое количество иллюстраций. Эта книга будет полезна тем, кто интересуется методами исследования материалов и структур в электронике с использованием рентгеновской дифракционной микроскопии.
Электронная Книга «Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия» написана автором Владимир Бублик в 2006 году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Русский
Описание книги от Владимир Бублик
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.
