Книга "Основы ЭСД" (ESD Basics) рассказывает о влиянии электростатического разряда (ESD) на производство полупроводников, компоненты и системы, особенно при переходе от микро- к наноэлектронике. В ней изложены основы ЭСД, перенапряжения (EOS), электромагнитных помех (EMI), электромагнитной совместимости (EMC) и самозахвата, а также представлен обзор среды производства полупроводников и конечной сборки системы. Книга представляет примеры интеграции сетей защиты от ЭСД в конкретных технологиях, схемах и микросхемах. В ней также рассматриваются вопросы производства, проектирования и тестирования полупроводниковых микросхем с учетом проблем, связанных с ЭСД, а также рассматриваются вопросы будущего развития ЭСД-феноменов и нанотехнологий.
Книга содержит следующие темы: основы электростатики, трения и связанные с ними производственные среды от микроэлектроники до нанотехнологий; обработка и аудит производства полупроводников для предотвращения отказов из-за ЭСД; тестирование на уровне компонентов и системы для демонстрации устойчивости продукта от модели человеческого тела (HBM), импульса линии передачи (TLP), заряженной модели устройства (CDM), модели человеческого металла (HMM), событий разрядки кабеля (CDE) и тестов на системный уровень IEC 61000-4-2; проектирование микросхем с учетом ЭСД и практические решения для улучшения ЭСД-решений полупроводниковых микросхем, а также защита на уровне системы; примеры ЭСД-конструкций для передовых технологий, включая CMOS, BiCMOS, SOI, биполярную технологию, высоковольтную CMOS (HVCMOS), RF CMOS, smart power, магнитную запись, микромашины (MEMs) и наноструктуры.
Книга "Основы ЭСД: от производства полупроводников до использования продукта" является неотъемлемым источником информации для тех, кто только начинает работать в этой области, и представляет собой полезный обзор проблем, которые сталкиваются современные технологии при входе в эпоху наноэлектроники.
Эта книга написана Стивеном Х. Волдманом и посвящена основам электростатического разряда (ESD), а также электрическим перегрузкам (EOS), электромагнитным помехам (EMI), электромагнитной совместимости (EMC) и латенту.
Она предоставляет целостный обзор полупроводниковой производственной среды и окончательной сборки системы. Книга включает в себя уникальное освещение интеграции сетей защиты от ЭСР, а также примеры в конкретных технологиях, схемах и чипах. В тексте рассматриваются вопросы производства полупроводниковых чипов, дизайна полупроводниковых ЭСР-чипов и проблем, с которыми сталкиваются современные системы, а также будущее явлений ЭСР и нанотехнологий.
Внутри книги вы найдете подробное описание основных принципов электростатики, трибоэлектрического заряда и того, как они соотносятся с современными производственными средами микроэлектроники и нанотехнологии. Вы также найдете информацию о методах обработки и аудита производства для предотвращения отказов ЭСР, ЭОС, ЭМИ, ЭМС и латентности.
Эта книга будет полезна инженерам, разработчикам, технологам и студентам, изучающим полупроводниковую электронику и технологии, а также тем, кто занимается разработкой полупроводниковых систем, их производством и обслуживанием.
Электростатический разряд (ЭСР) продолжает воздействовать на полупроводниковое производство, полупроводниковые компоненты и системы по мере того, как технологии масштабируются от микро- до нано электроники. Эта книга вводит основы ЭСР, электрического перенапряжения (EOS), электромагнитных помех (EMI), электромагнитной совместимости (EMC) и возникновения незаметно и предоставляет представительный обзор полупроводниковой среды производства и окончательной сборки систем. Она дает яркое представление о интеграции сетей защиты от ЭСР с последующими примерами в определенных технологиях, схемах и чипах. Текст уникален тем, что охватывает вопросы производства полупроводниковых чипов, разработки полупроводниковых ЭСР-чипов и проблем системы, с которыми люди сегодня сталкиваются, а также будущее явлений ЭСР и нано-технологий. Найди внутри для обширного рассмотрения следующих аспектов: Основные принципы электростатики, электрическое трение и то, как они связаны с современной средой производства микро- и наноэлектроники Обработка и проверка производства полупроводников, чтобы избежать неудач из-за ЭСР Испытание компонентов и систем на уровне полупроводников ЭСР для демонстрации устойчивости продукции от человеческого модельного тела (HBM) и испытания импульсов линии передачи (TLP).
Электронная Книга «ESD Basics» написана автором Steven H. Voldman в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9781118443279
Описание книги от Steven H. Voldman
Electrostatic discharge (ESD) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems, as technologies scale from micro- to nano electronics. This book introduces the fundamentals of ESD, electrical overstress (EOS), electromagnetic interference (EMI), electromagnetic compatibility (EMC), and latchup, as well as provides a coherent overview of the semiconductor manufacturing environment and the final system assembly. It provides an illuminating look into the integration of ESD protection networks followed by examples in specific technologies, circuits, and chips. The text is unique in covering semiconductor chip manufacturing issues, ESD semiconductor chip design, and system problems confronted today as well as the future of ESD phenomena and nano-technology. Look inside for extensive coverage on: The fundamentals of electrostatics, triboelectric charging, and how they relate to present day manufacturing environments of micro-electronics to nano-technology Semiconductor manufacturing handling and auditing processing to avoid ESD failures ESD, EOS, EMI, EMC, and latchup semiconductor component and system level testing to demonstrate product resilience from human body model (HBM), transmission line pulse (TLP), charged device model (CDM), human metal model (HMM), cable discharge events (CDE), to system level IEC 61000-4-2 tests ESD on-chip design and process manufacturing practices and solutions to improve ESD semiconductor chip solutions, also practical off-chip ESD protection and system level solutions to provide more robust systems System level concerns in servers, laptops, disk drives, cell phones, digital cameras, hand held devices, automobiles, and space applications Examples of ESD design for state-of-the-art technologies, including CMOS, BiCMOS, SOI, bipolar technology, high voltage CMOS (HVCMOS), RF CMOS, smart power, magnetic recording technology, micro-machines (MEMs) to nano-structures ESD Basics: From Semiconductor Manufacturing to Product Use complements the author’s series of books on ESD protection. For those new to the field, it is an essential reference and a useful insight into the issues that confront modern technology as we enter the Nano-electronic Era.
