Книга "Электронная микроскопия" является широким обзором физических основ и принципов всех современных методик электронной микроскопии. Она была создана на основе успешного трехтомника "Руководство по микроскопии" и предлагает компетентное сравнение возможностей последних разработок в этой области исследований поверхностей. В книге рассматриваются следующие темы: стационарные методы с использованием пучка электронов (трансмиссионная электронная микроскопия, спектроскопия потерь энергии электрона, конвергентная электронная дифракция, низкоэнергетическая электронная микроскопия, электронная голография); методы со сканирующим пучком (сканирующая трансмиссионная электронная микроскопия, сканирующая аугеровская и рентгеновская микроскопия, сканирующая микроанализ, изображение вторичной ионной масс-спектрометрией); магнитная микроскопия (сканирующая электронная микроскопия с анализом поляризации, поляризованная низкоэнергетическая электронная микроскопия). Книга будет полезна материаловедам и любым ученым, занимающимся исследованием поверхностей, как источник информации о принципах электронной микроскопии.
Выходящий в трех томах из успешного трехобъемного Руководства по Микроскопии, этот учебник содержит обзор всего спектра физических основ всех новейших методов электронной микроскопии. Актуальная авторская работа по методу, наиболее часто используемому для исследования поверхностей, дает компетентное сравнение возможностей новейших разработок промышленности. Темы включают: * Методы стационарным лучом: Электронная микроскопия с пропусканием, Электронная спектроскопия потерь энергии, Дифракция электронов сходящимся пучком, Микроскопию электронов низкой энергии, Методы электроногравиметрии * Методы сканирования лучом: Сальная Электронная Микроскопия, Микроскопия и масс-спектрометрия ионов вторых электронов, сканирование, Научная деятельность по анализу изображений * Магнитная микроскопия: Раманационная электронная микроскопия, к которому была применена Электронная микроскопия электронов низкой энергии; Подойдет материаловедам и всем исследователям поверхностей. Эту книгу они сочтут неоценимым источником информации для принципов электронной микроскопии
Содержит полный обзор физических основ и принципов всех современных методов электронной микроскопии. Благодаря этому справочному руководству по основному методу исследования поверхностей, вы получите компетентное сравнение возможностей новейших технологий в данной области. В книге рассматриваются такие темы, как: методы с постоянным электронным пучком: просвечивающая электронная микроскопия; спектроскопия потерь энергии электронов; дифракция сходящихся электронов пучка; микроскопия с электронами низкой энергии; голографическая электронная микроскопия методы сканирующего пучка: сканирующая зондовая микроскопия электронного просвечивания; микроскопческую исследование Адзера и XPS; сканирующий микроанализ; масс-спектроскопическое исследование вторичных ионов Перевод на русский язык выполнен в сотрудничестве с Г.
Электронная Книга «Electron Microscopy» написана автором S. Amelinckx в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9783527614554
Описание книги от S. Amelinckx
Derived from the successful three-volume Handbook of Microscopy, this book provides a broad survey of the physical fundamentals and principles of all modern techniques of electron microscopy. This reference work on the method most often used for the characterization of surfaces offers a competent comparison of the feasibilities of the latest developments in this field of research. Topics include: * Stationary Beam Methods: Transmission Electron Microscopy/ Electron Energy Loss Spectroscopy/ Convergent Electron Beam Diffraction/ Low Energy Electron Microscopy/ Electron Holographic Methods * Scanning Beam Methods: Scanning Transmission Electron Microscopy/ Scanning Auger and XPS Microscopy/ Scanning Microanalysis/ Imaging Secondary Ion Mass Spectrometry * Magnetic Microscopy: Scanning Electron Microscopy with Polarization Analysis/ Spin Polarized Low Energy Electron Microscopy Materials scientists as well as any surface scientist will find this book an invaluable source of information for the principles of electron microscopy.
