Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение (Джи Лиу). 2006г.

Книга Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение является сборником статей и обзоров известных ученых в области нанотехнологий, посвященных растровой электронной микроскопии (РЭМ). РЭМ позволяет изучать свойства различных наноматериалов, таких как наночастицы, нанопроволоки, нанотрубки, трехмерные наноструктуры, квантовые точки, магнитные наноматериалы, фотонные кристаллы и биологические наноструктуры. В книге рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но также может быть полезна студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.

Книга Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение представляет собой комплексный обзор современных методов исследования наноструктур с помощью растровой электронной микроскопии (РЭМ). В книге собраны наиболее актуальные статьи и обзоры от ведущих специалистов в области нанотехнологий, которые знакомят читателя с основами РЭМ и его различными приложениями. В книге рассматриваются различные типы РЭМ, включая сканирующую просвечивающую электронную микроскопию, электронную криомикроскопию, а также методы получения изображения с помощью обратно рассеянных электронов и рентгеновского микроанализа. Описываются методы исследования различных наноструктур, включая наночастицы, нанопроволоки, нанотрубки, квантовые точки, магнитные наноматериалы, фотонные кристаллы и биологические наноструктуры. Эта книга является необходимой для всех, кто работает в области нанотехнологий и желает ознакомиться с основами РЭМ и его применениями, а также для студентов и ученых, которые занимаются исследованиями наноструктур.