Связь свойств материалов с их микроструктурой является фундаментальной темой в материаловедении, для понимания которой необходимы глубокие знания современных методов характеризации. Поскольку современные материалы, такие как жаропрочные сплавы, инженерные термопласты и многослойные полупроводниковые пленки, содержат много элементов, распределенных более чем в одной фазе, их характеризация крайне важна для систематической разработки таких новых материалов и понимания их поведения в практических применениях. Рентгеновские методы играют важную роль в получении информации об элементном составе и кристаллической и зеренной структурах всех типов материалов. Задача эксперта по характеризации материалов - понять, как конкретные приборы и аналитические методы могут дать подробную информацию о том, что делает каждый материал уникальным. Задача материаловеда, химика или инженера - знать, какая информация нужна для полной характеристики каждого материала, и как использовать эту информацию для объяснения его поведения, разработки улучшенных свойств, снижения затрат или обеспечения соответствия нормативным требованиям. Эта всеобъемлющая книга представляет весь необходимый фон для понимания применения рентгеновского анализа для характеризации материалов, с особым вниманием к современному подходу к этим методам.
Linkage of materials properties to microstructures has become a crucial theme in the field of materials science. It requires an in-depth understanding of modern characterisation techniques. Today's materia ls consisting of high - temperature alloys, complex engineering thermoplastics, and multilaye r semiconductor films, are often made up of several elementary components distributed over more than one ph ase. Characterisation is essential for the syst e matic development of these new materials as well as for understanding their performance in real - world applications. X - ray technology plays a pivotal role for acquiring information on elemental composition and the crystal and grain configurations in every type of material. However, it is the responsibility of a characte r isation specialist to grasp how specific apparatuses and analysis methods can provide precise details about a material's uniqueness. Materials scientists, chemical engineers and designers must also understand which inform ation is required to completely characterise a particular material, and how to apply this data to predict its behaviour, create new better propertie s, reduce expenses, or guarantee conformity to legal demands.This definitive handbook covers the essential backgroun d needed to understand the application of X - ra y analyses to materi als characterisatio n with a specific focus on modern aspects of such methods.
Электронная Книга «X-ray Characterization of Materials» написана автором Eric Lifshin в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9783527613755
Описание книги от Eric Lifshin
Linking of materials properties with microstructures is a fundamental theme in materials science, for which a detailed knowledge of the modern characterization techniques is essential. Since modern materials such as high-temperature alloys, engineering thermoplastics and multilayer semiconductor films have many elemental constituents distributed in more than one phase, characterization is essential to the systematic development of such new materials and understanding how they behave in practical applications. X-ray techniques play a major role in providing information on the elemental composition and crystal and grain structures of all types of materials. The challenge to the materials characterization expert is to understand how specific instruments and analytical techniques can provide detailed information about what makes each material unique. The challenge to the materials scientist, chemist, or engineer is to know what information is needed to fully characterize each material and how to use this information to explain its behavior, develop new and improved properties, reduce costs, or ensure compliance with regulatory requirements. This comprehensive handbook presents all the necessary background to understand the applications of X-ray analysis to materials characterization with particular attention to the modern approach to these methods.
