Эта книга посвящена исследованию тонких пленок с помощью рентгеновской дифракции. Авторы Пол Ф. Фьюстер и Кристоф Генцель являются признанными экспертами в этой области. Хотя в 60-70-х годах основное внимание уделялось исследованию порошков и поликристаллических материалов, в начале 21-го века развитие высоких технологий определяется наукой о тонких пленках. Эта междисциплинарная область интересна химикам, биохимикам, материаловедам, физикам и инженерам, поскольку тонкие пленки имеют множество применений. Размер зерна, пористость, плотность, предпочтительная ориентация и другие свойства важны для понимания того, выполняют ли тонкие пленки свои заданные функции в зависимости от структуры и морфологии. Хотя у специалистов разное образование, им всем нужно глубокое понимание того, как можно определить структурные свойства, чтобы выполнять свои задачи в поиске новых и современных материалов, покрытий и функций. Автор детально и понятно вводит читателя в эту область исследования тонких пленок методом рентгеновской дифракции.
Created through contributions by Paul F.Fewster and Christop Hen, the book "Thin Film Analysis by x-ray Scattering" is a definitive complete guide to a fundamental aspect of modern materials technology; the analysis of thin films through the utilization of X-rays and related techniques. Written in an easily understandable and comprehensive style, this text is aimed to lend precision, thoroughness, and inspiration to professionals in fields as diverse as chemistry, biochemistry, materials science, physics, and engineering. Spoiler alert! This book will help you take on any challenge presented in your research involving thin films!
With contributions by Paul F Fewster and Christian J G specimens. An interdisciplinary area, the surveyed functions and applications impact. As connections between the varied specialists are core to understanding structural, material requirements for successful performance. Author provides a thorough introduction to X-ray techniques for thin deposits characterisation.
Электронная Книга «Thin Film Analysis by X-Ray Scattering» написана автором Mario Birkholz в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9783527607044
Описание книги от Mario Birkholz
With contributions by Paul F. Fewster and Christoph Genzel While X-ray diffraction investigation of powders and polycrystalline matter was at the forefront of materials science in the 1960s and 70s, high-tech applications at the beginning of the 21st century are driven by the materials science of thin films. Very much an interdisciplinary field, chemists, biochemists, materials scientists, physicists and engineers all have a common interest in thin films and their manifold uses and applications. Grain size, porosity, density, preferred orientation and other properties are important to know: whether thin films fulfill their intended function depends crucially on their structure and morphology once a chemical composition has been chosen. Although their backgrounds differ greatly, all the involved specialists a profound understanding of how structural properties may be determined in order to perform their respective tasks in search of new and modern materials, coatings and functions. The author undertakes this in-depth introduction to the field of thin film X-ray characterization in a clear and precise manner.
