Книга "Исследование поверхности с помощью сканирующей туннельной микроскопии и атомно-силовой микроскопии" описывает мощные инструменты для исследования поверхности - сканирующую туннельную микроскопию (STM) и атомно-силовую микроскопию (AFM). Ранее, многие исследования с помощью STM и AFM приводили к ошибочным выводам из-за отсутствия должного теоретического обоснования и понимания того, как изображения поверхности зависят от условий измерения. Для этой книги два мировых эксперта, один по теоретическому анализу, а другой по экспериментальной характеризации, объединились, чтобы собрать вместе основные компоненты исследований STM и AFM: практические аспекты STM, симуляцию изображений путем расчета плотности электронов на поверхности и качественную оценку корругаций поверхности, вызванных силами торца зонда. В качестве практических примеров рассматриваются: неорганические слоистые материалы, органические проводники, органические адсорбаты на границе жидкость-твердое тело, самоорганизующиеся амфифилы, полимеры. Эта книга будет бесценным справочным материалом для исследователей, активно занимающихся STM и AMF, а также для новичков в этой области.
Эта книга является прекрасным ресурсом для специалистов в области сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и атомно-силовой микроскопии (АСМ), а также для всех, кто только начинает свое знакомство с этими исследовательскими методами.
Электронная Книга «Surface Analysis with STM and AFM» написана автором Myung-Hwan Whangbo в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9783527615100
Описание книги от Myung-Hwan Whangbo
Scanning tunneling microscopy (STM) and atomic force microscopy (AFM) are powerful tools for surface examination. In the past, many STM and AFM studies led to erroneous conclusions due to lack of proper theoretical considerations and of an understanding of how image patterns are affected by measurement conditions. For this book, two world experts, one on theoretical analysis and the other on experimental characterization, have joined forces to bring together essential components of STM and AFM studies: The practical aspects of STM, the image simulation by surface electron density plot calculations, and the qualitative evaluation of tip-force induced surface corrugations. Practical examples are taken from: * inorganic layered materials * organic conductors * organic adsorbates at liquid-solid interfaces * self-assembled amphiphiles * polymers This book will be an invaluable reference work for researchers active in STM and AMF as well as for newcomers to the field.
