Этот неоценимый ресурс рассказывает полную историю механизмов отказа - от базовых концепций до инструментов, необходимых для проведения испытаний надежности и анализа результатов. Являясь одновременно учебником и справочником по этому важному разделу технологии полупроводников, он не требует предварительных знаний или опыта в области надежности. Это также первый справочник, который содержит всю необходимую физику, уравнения и пошаговые процедуры для надежности КМОП технологий в одном месте. Практические приложения предоставляют базовые экспериментальные процедуры, включая разработку эксперимента, проведение испытаний в лаборатории, анализ данных, прогнозирование надежности и интерпретацию прогнозов.
В этом ценном ресурсе изложена полная история механизмов отказов – от элементарных концепций до инструментов, необходимых для проведения испытаний на надежность и анализа результатов. Он в равной степени представляет собой и текст, и справочный труд по этой важной области полупроводниковой технологии и предполагает отсутствие навыков или опыта по вопросам надежности. Кроме того, здесь присутствует первая в своем роде книга, объединившая всю необходимую физику, формулы и пошаговые методы для проведения надежности технологии CMOS. Практические приложения снабжают базовыми экспериментальными процедурами, включая планирование экспериментов, организацию испытаний в лаборатории, анализ данных, прогнозирование надежности, а также интерпретацию прогнозов.
Электронная Книга «Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies» написана автором Rolf-Peter Vollertsen в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9780470455258
Описание книги от Rolf-Peter Vollertsen
This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms—from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. It also offers the first reference book with all relevant physics, equations, and step-by-step procedures for CMOS technology reliability in one place. Practical appendices provide basic experimental procedures that include experiment design, performing stressing in the laboratory, data analysis, reliability projections, and interpreting projections.
