Вы хотите узнать описание книги П. Г. Шляхтенко "Перспективные методы оптического контроля структурно-параметрических характеристик волокносодержащих материалов"?
Вы хотите узнать краткое описание или описание полное? Я могу написать полное описание.
**Описание книги.**
Эта монография посвящается разработке оптических методов контролирования главных качественных индикаторов геоструктуры текстурообразных пластов: алгоритмов расчета базисных рабочих показателей поперечнику основы ткани; дифференциальных стратегических стратегий методики контроля текстовых параметров волокнистой корзины по параметрах соответствующую дифракционную кинокартину Фраунгофер; аналитических расчетных способов метода контроля дифракционных параметров драпировочной продукции и ксерокопии по компьютерной микрографии их области захвата. Пособие разработано аспирантам адекватных материаловедных общественных заведений и организационно-техническим специалистом, занимающимся работой в плановом поле производства оптических регистрирующих приборов и систем машинизированного контроля.
Электронная Книга «Перспективные методы оптического контроля структурных параметров волокно-содержащих материалов. (Бакалавриат, Магистратура). Монография.» написана автором Павел Григорьевич Шляхтенко в 2023 году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Русский
ISBN: 9785466028218
Описание книги от Павел Григорьевич Шляхтенко
Монография посвящена разработке оптических методов контроля основных параметров геометрической структуры волокнистых материалов: – методов, основанных на измерении светорассеяния – лазерных аппаратных методов контроля периодических структурных параметров ткани, трикотажа, крученых нитей по параметрам соответствующей дифракционной картины Фраунгофера – принципиально новых безаппаратных расчетных методов дифракционного контроля параметров текстильных материалов и бумаги по компьютерным микроизображениям их поверхности Предназначена для аспирантов соответствующих материаловедческих дисциплин и инженерно-технических специалистов, работающих в области создания оптических датчиков компьютерного контроля.