Книга "Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств" представляет собой руководство по объединению отдельных тест-проверок модулей, составляющих цифровые устройства, в единую тест-программу. Она описывает основные принципы этого объединения, основанные на неполной информации об устройстве. Книга рассматривает свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте и предлагает эвристические алгоритмы упорядочения проверок. Если вам интересны вопросы тестирования сложных цифровых устройств, то эта книга может оказаться полезной для вас.
Книга "Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств" представляет основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей в цифровых устройствах в единую тест-программу. В ней рассматривается ситуация, когда доступная информация о реакциях неисправного устройства ограничена. Авторы формулируют свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте и предлагают эвристические алгоритмы для их упорядочивания. Книга является ценным ресурсом для специалистов, занимающихся тестированием сложных цифровых устройств, и предлагает полезные практические рекомендации для оптимизации процесса тестирования.
Статья освещает базовые принципы объединения тестов отдельных модулей цифрового устройства в одну общую тест-программу – в случаях, когда информация о поведении неисправного объекта неполна. К работе представлены также некоторые свойства упорядоченного набора тестов и даются рекомендации по созданию алгоритмов, основанных на эвристических методах для составления такого рода упорядочений.
Электронная Книга «Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств» написана автором И. О. Атовмян в 2014 году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Русский
Серии: Прикладная информатика. Научные статьи
Описание книги от И. О. Атовмян
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
