Книга "Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices" - это полное и всестороннее исследование современных технологий измерений на малых масштабах. Она охватывает передовые исследования в области тестирования микро- и наноустройств, проводимые как в промышленности, так и в научных кругах. Книга представлена на двух уровнях сложности - вводном и продвинутом, что позволяет получить фундаментальные знания и теории. Основное внимание уделяется методам измерений для характеристики MEMS/NEMS-устройств.
State-of The Art Measurement Techniques For Microscale And Nanoscale Systems, Jingdong Chen, demonstrates how new technology can bring device fabrication to mind blowing accuracy. Readers can learn about many techniques including optical, electromechanical, atomic force microscopy, scanning tunneling microscopy, nuclear magnetic resonance as well as quantum dots. Readers interested in small scale device design, fabrication or systems will find this book a valuable addition to their reading list.
Электронная Книга «Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices» написана автором Jingdong Chen в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9781118717981
Описание книги от Jingdong Chen
A fully comprehensive examination of state-of-the-art technologies for measurement at the small scale • Highlights the advanced research work from industry and academia in micro-nano devices test technology • Written at both introductory and advanced levels, provides the fundamentals and theories • Focuses on the measurement techniques for characterizing MEMS/NEMS devices
