"Materials Characterization. Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods" - это учебник для вводного курса по характеризации материалов, созданный на основании опыта автора в обучении студентов старших курсов и аспирантов. Второе издание сохраняет успешную дидактическую концепцию с введениями в начале глав, вопросами для упражнений и онлайн-решениями. Кроме того, все разделы были тщательно пересмотрены, обновлены и расширены, включая две новые темы (электронная дифракция обратного рассеяния и экологическая сканирующая электронная микроскопия), а также пятьдесят дополнительных вопросов - в общей сложности около 20% нового контента. Первая часть книги посвящена общеиспользуемым методам анализа микроструктуры, включая световую микроскопию, рентгеновскую дифракцию, трансмиссионную и сканирующую электронную микроскопию, а также микроскопию со сканирующим зондом. Вторая часть книги посвящена методам химического анализа и вводит в рентгеновскую энергодисперсионную спектроскопию, спектроскопию рентгеновской флуоресценции и такие популярные методы анализа поверхности, как фотоэлектронная и масс-спектроскопия вторичных ионов. Эта часть заканчивается двумя наиболее важными вибрационными спектроскопиями (инфракрасной и Рамановской) и все более важным термическим анализом. Теоретические концепции обсуждаются с минимальным участием математики и физики, а технические аспекты представлены с учетом практики измерений. Книга легко читается и не теряет своей целевой аудитории.
Электронная Книга «Materials Characterization. Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods» написана автором Yang Leng в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9783527670802
Описание книги от Yang Leng
Now in its second edition, this continues to serve as an ideal textbook for introductory courses on materials characterization, based on the author's experience in teaching advanced undergraduate and postgraduate university students. The new edition retains the successful didactical concept of introductions at the beginning of chapters, exercise questions and an online solution manual. In addition, all the sections have been thoroughly revised, updated and expanded, with two major new topics (electron backscattering diffraction and environmental scanning electron microscopy), as well as fifty additional questions – in total about 20% new content. The first part covers commonly used methods for microstructure analysis, including light microscopy, X-ray diffraction, transmission and scanning electron microscopy, as well as scanning probe microscopy. The second part of the book is concerned with techniques for chemical analysis and introduces X-ray energy dispersive spectroscopy, fluorescence X-ray spectroscopy and such popular surface analysis techniques as photoelectron and secondary ion mass spectroscopy. This section concludes with the two most important vibrational spectroscopies (infra-red and Raman) and the increasingly important thermal analysis. The theoretical concepts are discussed with a minimal involvement of mathematics and physics, and the technical aspects are presented with the actual measurement practice in mind. Making for an easy-to-read text, the book never loses sight of its intended audience.
