Учебное пособие "Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов" предназначено для академического бакалавриата и посвящено дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Книга рассматривает новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. и описывает комплекс разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга, которые используются для изучения их структуры и свойств. Автор книги является известным специалистом в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах и механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах. Книга является первым учебным пособием по этому направлению в отечественной литературе и может быть полезна студентам и исследователям, которые заинтересованы в изучении структуры и состава материалов.
Электронная Книга «Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов 2-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для академического бакалавриата» написана автором Эрнест Витальевич Суворов в 2018 году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Русский
Серии: Бакалавр. Академический курс
ISBN: 9785534060119
Описание книги от Эрнест Витальевич Суворов
С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами и др. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Предлагаемое учебное пособие посвящено дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. Необходимость настоящего издания обусловлена прежде всего тем, что учебные пособия по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор данной книги – известный специалист в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах – делает попытку восполнить этот пробел.
