Книга "Introduction to Spectroscopic Elliptometry" авторства Andrew Thye Wee Shen, посвящена изучению спектроскопической эллипсометрии тонких пленок материалов и их применения в науке и технике. Она представляет собой систематическое введение в эту область исследований, которая занимается изучением оптических свойств тонких слоев и пленок, а также
The book deals with the fundamentals of spectroscopic ellipsometry, with introductory coverage of various modeling techniques and applications, as well as analyses based on physical optics theory. Ellipsometric techniques are used to characterize a wide range of optical thin films for coding technology, photonics, and optoelectronic device research and development.
Электронная Книга «Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials» написана автором Andrew Thye Shen Wee в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9783527833948
