Подходя к теме цифровой голографии с практической точки зрения промышленной инспекции, книга "Цифровая голография для измерений МЭМС и микросистем" описывает процесс цифровой голографии и ее растущее применение для характеризации МЭМС, измерения остаточных напряжений, проектирования и оценки, а также тестирования и инспекции устройств. Автор также дает основательные теоретические знания, которые позволяют читателю понять базовые концепции и, таким образом, определить области, где эту технику можно применить. Это сочетание практического и теоретического подходов обеспечит актуальность книги и привлечет интерес как исследователей, так и инженеров, желающих оценить потенциал цифровой голографии для интеграции в их существующие машины и процессы.
В книге рассматривается характеризация частиц, где цифровая голография продемонстрировала возможность динамических измерений частиц в 3D для определения размера и формы, с применением в микрофлюидике, а также в исследованиях кристаллизации и обнаружения аэрозолей. Обсуждается цифровая голография отражения, цифровая голография пропускания, цифровая инлайн голография и цифровая голографическая томография, а также их применение. Рассматриваются другие применения, включая микрооптические и дифракционные оптические системы, тестирование этих компонентов, а также биовизуализация.
In this title, Anand Asundi approaches the topic of Digital Holograph from the perspective of industry and specifically surface characterization for Microsystems, The approach is based on practical applications, as well as the metrology of residual stress, displacement, vibration and susceptibility to fracture due to strain. The author also addresses the application of holography in areas like crack initiation, Microclave testing, automotive aesthetics and bio imaging. The theoretical angle is added by the author and a top-down approach applied to facilitate recognition of potential applications of this technology..
Электронная Книга «Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology» написана автором Anand Asundi в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9781119997306
Описание книги от Anand Asundi
Approaching the topic of digital holography from the practical perspective of industrial inspection, Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology describes the process of digital holography and its growing applications for MEMS characterization, residual stress measurement, design and evaluation, and device testing and inspection. Asundi also provides a thorough theoretical grounding that enables the reader to understand basic concepts and thus identify areas where this technique can be adopted. This combination of both practical and theoretical approach will ensure the book's relevance and appeal to both researchers and engineers keen to evaluate the potential of digital holography for integration into their existing machines and processes. Addresses particle characterization where digital holography has proven capability for dynamic measurement of particles in 3D for sizing and shape characterization, with applications in microfluidics as well as crystallization and aerosol detection studies. Discusses digital reflection holography, digital transmission holography, digital in-line holography, and digital holographic tomography and applications. Covers other applications including micro-optical and diffractive optical systems and the testing of these components, and bio-imaging.
