Эта книга знакомит с ключевыми аспектами комбинированного анализа - методологии рентгеновского и/или нейтронного рассеяния, которая объединяет структурный, текстурный, напряженностный, микроструктурный, фазовый, слойный или другие анализы переменных или свойств в одном подходе. В книге подробно рассматриваются базовые теории дифракции поликристаллов и наиболее распространенные экспериментальные установки для комбинированного анализа. Обсуждаются также микроструктуры профилей дифракции порошков; количественный фазовый анализ методом Ритвельда; анализ остаточных напряжений для изотропных и анизотропных материалов; спекулярное рентгеновское отражение и соответствующие модели.
Книга объединяет и освещает основные аспекты метода комбинированной аналити-ки, рентгеноструктурного и (или) нейтронного рассеяния. В данной методике про-водится анализ структуры, текстуры, напряжений, микроструктуры, фазового со-става, толщины и других свойств в рамках единого подхода. В начале излагаются основы теории дифракции на поликристаллах, подробно описывают-ся наиболее распространенные экспериментальные установки для проведения ком-бинированного анализа. Обсуждаются микроструктура порошковых дифракци-онных профилей, количественный фазовый анализ методом Ритвельда, анализ остаточных напряжений для изотропных и анизотропных материалов, условия максимумов зеркального рассеяния рентгеновского излучения. Приводятся раз-личные модели, связанные с данными методами.
Эта книга знакомит читателя с ключевыми принципами комбинированного анализа - метода рентгеновской или нейтронной рассеяния, который объединяет анализ структуры, текстуры, напряжений, микроструктуры, фазы, слоя и пр. переменных или свойств в одном подходом. В тексте приведены основы теорий дифракции поликристаллов и подробно описаны основные установки для комбинированного анализа. Рассмотрена также микроструктура порошковых диффракционных профилей, количественный фазовый анализ, выполненный методом Ритвельда, анализ остаточных напряжений для изотропных и анизотропных материалов, зеркальное отражение рентгеновских лучей и связанные с этим модели.
Электронная Книга «Combined Analysis» написана автором Daniel Chateigner в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9781118622711
Описание книги от Daniel Chateigner
This book introduces and details the key facets of Combined Analysis – an x-ray and/or neutron scattering methodology which combines structural, textural, stress, microstructural, phase, layer, or other relevant variable or property analyses in a single approach. The text starts with basic theories related to diffraction by polycrystals and some of the most common combined analysis instrumental set-ups are detailed. Also discussed are microstructures of powder diffraction profiles; quantitative phase analysis from the Rietveld analysis; residual stress analysis for isotropic and anisotropic materials; specular x-ray reflectivity, and the various associated models.
