Книга "Приложения и метрология на нанометровом уровне, Часть 1" представляет собой описание экспериментальных методов, позволяющих разрабатывать и характеризовать материалы на нанометровом уровне. Авторы книги основываются на практических инженерных случаях, таких как применение электромагнитных волн в связи с 5G и интерференция поляризованного света. Особое внимание уделяется технологии умных материалов и масштабированию, а также их применению в области механической инженерии, на примере электромеханического взаимодействия в пьезоэлектрических системах. Книга также представляет методы статистического анализа, полезные для инженеров при проведении экспериментов, характеризации материалов и проектировании систем. Авторы уделяют внимание вопросам безопасности и передовым методам расчета надежности. Книга представляет ценную поддержку для преподавателей и исследователей, а также предназначена для студентов инженерных специальностей, работающих инженеров и магистрантов.
Книга "Applications and Metrology Nanometer Scale" является первым томом серии из четырех томов освещающий область развития научной инженерии и наномикросистем. Ее авторы Абдулхалак Эль Хами и Хесам Элиас. В книге подробно рассматриваются практические инженерные случаи, такие как 5G и интерференция поляризованного света для электромагнитных волн. А так же ключевым целью данной работы является показать экспериментальные методики, развитие и характеристики материалов нанометрического уровня, основанных на практических инженерных решениях. Также охватывает аспекты статистического анализа, как они влияют на системную инженерию, начиная с использования коэффициентов безопасности и заканчивая современными методиками расчета надежности. Целевая аудитория - преподаватели и исследователи, но пособие будет также актуально для студентов-инженеров и работающих инженеров и Магистерским студентам.
Электронная Книга «Applications and Metrology at Nanometer Scale 1» написана автором Abdelkhalak El Hami в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9781119808145
Описание книги от Abdelkhalak El Hami
To develop innovations in quantum engineering and nanosystems, designers need to adopt the expertise that has been developed in research laboratories. This requires a thorough understanding of the experimental measurement techniques and theoretical models, based on the principles of quantum mechanics. <p>This book presents experimental methods enabling the development and characterization of materials at the nanometer scale, based on practical engineering cases, such as 5G and the interference of polarized light when applied for electromagnetic waves. Using the example of electromechanical, multi-physical coupling in piezoelectric systems, smart materials technology is discussed, with an emphasis on scale reduction and mechanical engineering applications. <p>Statistical analysis methods are presented in terms of their usefulness in systems engineering for experimentation, characterization or design, since safety factors and the most advanced reliability calculation techniques are included from the outset. This book provides valuable support for teachers and researchers but is also intended for engineering students, working engineers and Master's students.
