“An Introduction to Surface Analysis by XPS и AES” - это книга, написанная Джоном Ф. Уоттсом, которая представляет собой введение в методы анализа поверхности с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS) и атомной электронной спектроскопии высокого разрешения (AES).
В книге рассматриваются основные принципы работы XPS и AES, их применение в различных областях науки и техники, а также методы подготовки образцов для анализа. Особое внимание уделяется описанию методов обработки данных и интерпретации результатов.
Книга будет полезна для студентов и научных работников, занимающихся исследованиями поверхности материалов, а также для специалистов в области нанотехнологий и материаловедения.
Электронная Книга «An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES» написана автором John F. Watts в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9781119417620
