Основная проблема современных флешек и SSD накопителей на их основе – слишком малый срок службы чипов.
Несмотря на все ухищрения, сейчас одна ячейка выдерживает всего около 10 000 циклов записи-стирания.
Из-за хрупкости микросхем невозможно уменьшить размер ячеек и сделать память более емкой, поскольку при производстве транзисторов с техпроцессом менее 20 нм срок службы флэш-памяти вообще снизится до критических значений.
Именно в этом направлении сейчас работают лучшие умы в R&D-центрах крупнейших компаний микроэлектронной отрасли.
На этой неделе стало известно о двух интересных событиях.
Инженеры из Нумоникс , дочерняя компания Intel, предложенный Для покрытия ячеек используются те же материалы, что и при производстве компакт-дисков, то есть слоистая структура из теллура, германия и сурьмы.
Теоретически такая структура памяти фазового изменения (PCM) могла бы позволить уменьшить размер ячейки до 5 нм.
При этом сохранится чрезвычайно высокий срок службы (до 1 миллиона циклов записи-стирания), как у уже созданного ими тестового модуля на 128 МБ.
Это в сто раз больше, чем при существующей технике.
Японские учёные придумали альтернативный способ .
Они предлагают внедрить в существующую флеш-память что-то вроде механизма «горячей замены», когда выход из строя отдельных ячеек не влияет на работу всего модуля.
По японским расчетам, срок службы «сегнетоэлектрического» NAND-модуля увеличивается до 100 миллионов циклов, а техпроцесс может быть сокращен до 10 нм.
Теги: #NAND #ssd #флэш-память #срок службы #жизненный цикл #цикл записи - #Компьютерное оборудование
-
Оптимизация Времени Сборки. Часть 1.
19 Oct, 24 -
Машина, Которая Делает Дырки!
19 Oct, 24
