Книга "Two-dimensional X-ray Diffraction" является важным ресурсом для исследователей и студентов в области материаловедения, химии, физики и фармацевтики. Автор является одним из пионеров 2D рентгеновской дифракции, и в этом обновленном и расширенном издании он предоставляет полное покрытие основ этого аналитического метода, а также современных экспериментальных методов и приложений. Книга содержит информацию о соглашениях по геометрии, источнике рентгеновского излучения и оптике, двухмерных детекторах, интерпретации дифракционных данных и конфигурациях для различных приложений, таких как идентификация фаз, текстура, напряжение, анализ микроструктуры, кристалличность, анализ тонких пленок и комбинаторный скрининг. В книге также представлены многочисленные экспериментальные примеры в области материаловедения, производства и фармацевтики.
2D рентгеновская дифракция является идеальным неразрушающим аналитическим методом для изучения образцов всех видов, включая металлы, полимеры, керамику, полупроводники, тонкие пленки, покрытия, краски, биоматериалы, композиты и другие. "Two-Dimensional X-Ray Diffraction, Second Edition" является актуальным ресурсом для понимания того, как последние 2D детекторы интегрируются в дифрактометры, как получить наилучшие данные, используя 2D детектор для дифракции, и как интерпретировать эти данные. Все желающие установить 2D дифракцию в своих лабораториях найдут полезной информацию об основных физических принципах, геометрии проекций и математических выводах.
Книга содержит новые материалы во всех главах с большинством иллюстраций в полном цвете, что позволяет увидеть больше деталей в иллюстрациях и дифракционных образцах. Она также охватывает последние достижения в технологии детекторов и стратегиях сбора данных, которые привели к значительному увеличению использования двухмерных детекторов для рентгеновской дифракции. Книга предоставляет подробное описание новых инноваций в источниках рентгеновского излучения, оптике, конфигурациях систем, приложениях и алгоритмах оценки данных. Она содержит новые методы и экспериментальные примеры в анализе напряжений, текстуры, размерах кристаллов, ориентации кристаллов и анализе тонких пленок. "Two-Dimensional X-Ray Diffraction, Second Edition" является важным рабочим ресурсом для промышленных и научных исследователей и разработчиков в области материаловедения, химии, физики, фармацевтики и всех, кто использует рентгеновскую дифракцию в качестве метода характеризации. Книга будет полезна как для начинающих пользователей, так и для специалистов, техников и менеджеров лабораторий по рентгеновской дифракции, а также для разработчиков инструментов.
This up-to-dated and revised edition delves into the significance and versatility of X-ray diffractions in two dimensional, especially for the fields of materials science and chemistry; it is also valuable for students and researchers of different pharmacological schools.
Электронная Книга «Two-dimensional X-ray Diffraction - Bob He B.» написана автором Bob He B. в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9781119356066
Описание книги от Bob He B.
An indispensable resource for researchers and students in materials science, chemistry, physics, and pharmaceuticals Written by one of the pioneers of 2D X-Ray Diffraction, this updated and expanded edition of the definitive text in the field provides comprehensive coverage of the fundamentals of that analytical method, as well as state-of-the art experimental methods and applications. Geometry convention, x-ray source and optics, two-dimensional detectors, diffraction data interpretation, and configurations for various applications, such as phase identification, texture, stress, microstructure analysis, crystallinity, thin film analysis, and combinatorial screening are all covered in detail. Numerous experimental examples in materials research, manufacture, and pharmaceuticals are provided throughout. Two-dimensional x-ray diffraction is the ideal, non-destructive analytical method for examining samples of all kinds including metals, polymers, ceramics, semiconductors, thin films, coatings, paints, biomaterials, composites, and more. Two-Dimensional X-Ray Diffraction, Second Edition is an up-to-date resource for understanding how the latest 2D detectors are integrated into diffractometers, how to get the best data using the 2D detector for diffraction, and how to interpret this data. All those desirous of setting up a 2D diffraction in their own laboratories will find the author’s coverage of the physical principles, projection geometry, and mathematical derivations extremely helpful. Features new contents in all chapters with most figures in full color to reveal more details in illustrations and diffraction patterns Covers the recent advances in detector technology and 2D data collection strategies that have led to dramatic increases in the use of two-dimensional detectors for x-ray diffraction Provides in-depth coverage of new innovations in x-ray sources, optics, system configurations, applications and data evaluation algorithms Contains new methods and experimental examples in stress, texture, crystal size, crystal orientation and thin film analysis Two-Dimensional X-Ray Diffraction, Second Edition is an important working resource for industrial and academic researchers and developers in materials science, chemistry, physics, pharmaceuticals, and all those who use x-ray diffraction as a characterization method. Users of all levels, instrument technicians and X-ray laboratory managers, as well as instrument developers, will want to have it on hand.
