Эта книга охватывает современные методы, широко используемые в характеризации материалов. Рассматриваются два важных аспекта характеризации - структура материалов и химический анализ. Описаны такие широко применяемые методики, как металлография (световая микроскопия), рентгеновская дифракция, просвечивающая и сканирующая электронная микроскопия. Кроме того, книга знакомит с передовыми методами, включая сканирующую зондовую микроскопию. Во второй части книги представлены методики, такие как рентгеновская энергодисперсионная спектроскопия (часто используется в сканирующем электронном микроскопе), флуоресцентная рентгеновская спектроскопия, а также популярные методы анализа поверхности (фотоэлектронная и вторично-ионная масс-спектроскопия). Наконец, описаны методы колебательной спектроскопии (ИК и комбинационного рассеяния) и термического анализа.
This book covers various methods used in characterizing modern materials, covering aspects such as material structure and chemical composition. Metallographic light microscopy among other microscopy techniques like transmission electron microscopy are well covered. Some advanced methods like scanning probe microscopy are introduced. X-ray Energy Dispersive Spectroscopy that is commonly implemented in electron microscopes is shown. Fluorescence and X-ray spectroscopies are included as well. Surface Analysis Techniques such as XPS and SIMS (Secondary-Ion Mass Spectroscopy) are presented as well as Vibrational Spectroscopy and Thermal Analysis.
Электронная Книга «Materials Characterization - Yang Leng» написана автором Yang Leng в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9780470822999
Описание книги от Yang Leng
This book covers state-of-the-art techniques commonly used in modern materials characterization. Two important aspects of characterization, materials structures and chemical analysis, are included. Widely used techniques, such as metallography (light microscopy), X-ray diffraction, transmission and scanning electron microscopy, are described. In addition, the book introduces advanced techniques, including scanning probe microscopy. The second half of the book accordingly presents techniques such as X-ray energy dispersive spectroscopy (commonly equipped in the scanning electron microscope), fluorescence X-ray spectroscopy, and popular surface analysis techniques (XPS and SIMS). Finally, vibrational spectroscopy (FTIR and Raman) and thermal analysis are also covered.
