Книга "Атомно-силовая микроскопия. Основные режимы и продвинутые приложения" позволяет читателям понять основные свойства поверхности и межповерхностные силы, зависящие от расстояния, которые необходимо понимать, чтобы получить даже простые данные с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ). Материал становится все более сложным на протяжении всей книги, поясняя детали калибровки, физического происхождения артефактов и ограничений сигнала / шума. Книга охватывает области изображения, характеризации свойств материалов, анализа межинтерфейсных взаимодействий в жидкостях, трибологии и электромагнитных взаимодействий. "Дополнительный материал к этой книге можно найти, введя ISBN 9780470638828 на booksupport.wiley.com".
Atomic force microscopy: understanding basic modes and advanced applications. Edited by Greg Haugstad. Chapter: Biomass characterization using Raman spectrophotometry.
#научно-популярная литература
