"Дифракция структурный анализиз второй издание, перевод и дополнение". Учебное пособие предназначения для использования студентами ВУЗов в области технического и естествознания направлений.В книге рассматриваются физические основы кристаллической структуры, принципы теории дифракций на трёхмерной решётке (версия Лауэ теория дифрактометр), методы и приборы получения рентгеновского луча, свойства и методы математической обработки этих лучей. Основная тема исследования этой книги - физические аспекты теоретического анализа объектов, структуры динамической формы и формирования, определение основных параметров дифракционных линий методами распространения фазы анализа, исследования методами рентгеновской съёмки геометрических систем и топография форм.
Курс рассматривает физические основы кристаллографии и теории дифракции рентгеновскими лучами на трехмерной сетке (метод Лауэ). Приводятся сведения о путях получения рентгеновских лучей и их основных свойствах; излагаются методы и способы структурного анализа и др.
Электронная Книга «Дифракционный структурный анализ 2-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для вузов» написана автором Эрнест Витальевич Суворов в 2021 году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Русский
Серии: Высшее образование
ISBN: 9785534150049
Описание книги от Эрнест Витальевич Суворов
В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Содержание курса соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
