В книге “Scanning Probe Microscopy в промышленных приложениях” авторы описывают новые научные инструменты и их вклад в промышленные исследования. Благодаря вкладу ведущих международных экспертов в этой области, читатели узнают, как сканирующая микроскопия используется в промышленности, что приводит к улучшению состава продукта, повышению эффективности процессов, улучшению контроля качества и новых возможностей для бизнеса. В книге также описывается использование сканирующей микроскопии для поддержки исследований в таких отраслях, как полупроводниковая, химическая, косметическая, биоматериалы, фармацевтическая и пищевая наука. “Scanning Probe Microscopy для промышленных приложений” акцентирует внимание на наномеханической характеристике с использованием сканирующей микроскопии. Первая половина книги посвящена общему обзору методов наномеханического анализа, предлагая полное практическое руководство для читателей, которые только начинают изучать эту тему. В нескольких главах представлены рабочие примеры полезных расчетов, таких как использование механики Герца с адгезией и без нее для моделирования контакта, пошаговые инструкции для симуляций для выбора кантилевера для
В книге описываются новые научные инструменты и их вклад в индустриальные исследования и разработки. Она написана группой международных экспертов, подробно рассматривающих использование сканирующей микроскопии в промышленности, чтобы улучшить разработку продуктов, процессы, контроль качества и новые возможности для бизнеса. В книге обсуждаются вопросы использования сканирующей микроскопии для поддержки исследований и разработок в индустрии полупроводников, химикатов, продукции для личной гигиены, биологических материалов, фармацевтики и пищевых наук, помимо других областей. Книга "Сканирующая микроскопия в промышленных приложениях" уделяет особое внимание наномеханической характеристике с помощью сканирующей микроскопии. Первая половина книги посвящена общему обзору методов наномеханической характеристики, предлагая поклонникам дополнительное руководство в этой области. Многие главы включают примеры практического применения, такие как использование механики Герца с или без возникновения в модели взаимодействия, пошаговые инструкции для симуляции для определения выбора кантилевера перед экспериментом и методологии для анализа данных динамического взаимодействия. Вторая половина книги обсуждает применение метода наномеханицической характеристики в промышленности, включая: Новые разработки составов фармацевтических продуктов Определение критических размеров и тонких диэлектрических слоев в полупроводниковой индустрии Влияние влажности и температуры на биоматериалы Характеристика полимерных смесей при создании промышленных разработок химического сектора Раскрытия связи между структурой продовольствия и его функциональными характеристиками в пищевой индустрии. Контент книги основан на тщательном обзоре текущей литературы авторами и их собственном опыте применения сканирующей микроскоии для решения промышленных проблем. Разъяснив основы перед переходом к приложениям, книга "Сканированиевая микроскопия для промышленных приложений" предлагает полный учебно-методический курс, который могут использовать оба новичка и профессионалов. Каждый читатель сможет применить сканирующую микроскопию для усовершенствования собственных исследований и размышлений.
Электронная Книга «Scanning Probe Microscopy¿in Industrial Applications» написана автором Группа авторов в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9781118723142
Описание книги от Группа авторов
Describes new state-of-the-science tools and their contribution to industrial R&D With contributions from leading international experts in the field, this book explains how scanning probe microscopy is used in industry, resulting in improved product formulation, enhanced processes, better quality control and assurance, and new business opportunities. Readers will learn about the use of scanning probe microscopy to support R&D efforts in the semiconductor, chemical, personal care product, biomaterial, pharmaceutical, and food science industries, among others. Scanning Probe Microscopy for Industrial Applications emphasizes nanomechanical characterization using scanning probe microscopy. The first half of the book is dedicated to a general overview of nanomechanical characterization methods, offering a complete practical tutorial for readers who are new to the topic. Several chapters include worked examples of useful calculations such as using Hertz mechanics with and without adhesion to model a contact, step-by-step instructions for simulations to guide cantilever selection for an experiment, and data analysis procedures for dynamic contact experiments. The second half of the book describes applications of nanomechanical characterization in industry, including: New formulation development for pharmaceuticals Measurement of critical dimensions and thin dielectric films in the semiconductor industry Effect of humidity and temperature on biomaterials Characterization of polymer blends to guide product formulation in the chemicals sector Unraveling links between food structure and function in the food industry Contributions are based on the authors' thorough review of the current literature as well as their own firsthand experience applying scanning probe microscopy to solve industrial R&D problems. By explaining the fundamentals before advancing to applications, Scanning Probe Microscopy for Industrial Applications offers a complete treatise that is accessible to both novices and professionals. All readers will discover how to apply scanning probe microscopy to build and enhance their R&D efforts.
