Книга "Physics of Thin-film Photovoltaics" от Victor G. Karpova является удивительным новым трудом по решению парадокса, который возникает из-за того, что тонкие пленки фотогальваников (PV) изготавливаются из материалов, которые кажутся неприемлемыми с точки зрения классического PV, но при этом они часто превосходят классические PV. Все концепции, изложенные в этой книге, выходят за рамки классической практики PV. Различия между этими концепциями находятся в толщине устройства (вместо миллиметров, используются микрометры) и морфологии (аморфность вместо кристалличности). В таких структурах заряженные частицы могут достигать электродов без рекомбинации. С другой стороны, тонкие неупорядоченные структуры позволяют создавать вредные боковые неравномерности («автодороги рекомбинационных реакций»), а их спектры энергии приводят к новым механизмам рекомбинации.. Механизмы теплового обмена и деградация устройств уникальны.
Цель книги состоит в том, чтобы дать подробное объяснение физики тонких пленок, доступное для исследователей и студентов. Она охватывает большинство аспектов физики тонкопленочных PV, включая функционирование устройств, структуру материалов и параметры, формирование тонкого пленочного соединения, аналитическое и численное моделирование, концепции эффектов большой площади и боковых неоднородностей, физику шунтирования (как роста шунтирования, так и воздействия), а также деградацию устройств. Кроме того, она содержит обзор различных методов физического диагностики, доказывающих себя в контексте тонких пленочных PV. Для инженеров или студентов - ветеранов эта книга должна быть обязательной в любой библиотеке.
Электронная Книга «Physics of Thin-Film Photovoltaics» написана автором Victor G. Karpov в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9781119651178
Описание книги от Victor G. Karpov
It appears rather paradoxical that thin-film photovoltaics (PVs) are made of materials that seem unacceptable from the classical PV perspective, and yet they often outperform classical PV. This exciting new volume solves that paradox by switching to a new physics paradigm. Many concepts here fall beyond the classical PV scope. The differences lie in device thinness (microns instead of millimeters) and morphology (non-crystalline instead of crystalline). In such structures, the charge carriers can reach electrodes without recombination. On the other hand, thin disordered structures render a possibility of detrimental lateral nonuniformities (“recombination highways”), and their energy spectra give rise to new recombination modes. The mechanisms of thermal exchange and device degradation are correspondingly unique. The overall objective of this book is to give a self-contained in-depth discussion of the physics of thin-film systems in a manner accessible to both researchers and students. It covers most aspects of the physics of thin-film PV, including device operations, material structure and parameters, thin-film junction formation, analytical and numerical modeling, concepts of large area effects and lateral non-uniformities, physics of shunting (both shunt growth and effects), and device degradation. Also, it reviews a variety of physical diagnostic techniques proven with thin-film PV. Whether for the veteran engineer or the student, this is a must-have for any library.
