Книга "Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур" - это учебное пособие, соответствующее лекционному курсу, читаемому студентам специальности "Материаловедение и новые технологии". В книге кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, которая рассматривается как основной инструментальный метод. Также показана связь деформаций в сложных многослойных структурах с измеряемыми рентгенодифрактометрическими характеристиками, такими как средние деформации, профили деформации и кривизна.
В предлагаемом пособии в краткой форме изложены основные теоретические положения дифракционного метода изучения материалов поверхностей и основы техники высокого разрешения рентгеновской и нейтронной дифрактографии, которую некоторые рассматривают в настоящее время (в том числе и автор) среди основных инструментальных методов диагностики наноматериалов.
Электронная Книга «Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур» написана автором Кирилл Щербачев в 2001 году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Русский
Описание книги от Кирилл Щербачев
Содержание предлагаемого пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому в качестве спецкурса студентам специальности 071000 «Материаловедение и новые технологии». В нем кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассматриваемой в качестве основного инструментального метода. Показана связь деформаций в сложных многослойных структурах с измеряемыми рентгенодифрактометрическими методами характеристиками: средними деформациями, усредненными по толщине гетероструктуры, профилями деформации, кривизной.
