Книга "Атомно-силовая микроскопия. Основные режимы и продвинутые приложения" позволяет читателям понять основные свойства поверхности и межповерхностные силы, зависящие от расстояния, которые необходимо понимать, чтобы получить даже простые данные с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ). Материал становится все более сложным на протяжении всей книги, поясняя детали калибровки, физического происхождения артефактов и ограничений сигнала / шума. Книга охватывает области изображения, характеризации свойств материалов, анализа межинтерфейсных взаимодействий в жидкостях, трибологии и электромагнитных взаимодействий. "Дополнительный материал к этой книге можно найти, введя ISBN 9780470638828 на booksupport.wiley.com".
Atomic force microscopy: understanding basic modes and advanced applications. Edited by Greg Haugstad. Chapter: Biomass characterization using Raman spectrophotometry.
Электронная Книга «Atomic Force Microscopy. Understanding Basic Modes and Advanced Applications» написана автором Greg Haugstad в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9781118360699
Описание книги от Greg Haugstad
This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions. “Supplementary material for this book can be found by entering ISBN 9780470638828 on booksupport.wiley.com”
