"Optical Imaging and Metrology. Advanced Technologies" - это обширный обзор современного состояния и последних достижений в области оптического изображения и оптической метрологии, а также описание потенциала и тенденций развития в будущем. Это быстро развивающаяся область с многочисленными применениями в нанотехнологии и нанофизике. Написанная мировыми экспертами в этой области, эта книга заполняет пробел в существующей литературе, объединяя области оптического изображения и метрологии, и является единственным актуальным ресурсом в терминах фундаментальных знаний, базовых концепций, методологий, приложений и тенденций развития.
Издание охватывает современное состояние и последние научные разработки в области оптической визуализации и метрологии, анализирует потенциальные возможности развития и тенденции этой быстро растущей сферы практичного и теоретического применения во многих отраслях, особенно в нанотехнологии и нанофизике. Книга видится особенно актуальной и ценной, принимая во внимание тот факт, что она написана ведущими специалистами в данной области, которые охватывают все этапы - от фундаментальных знаний до современных методов, практического применения и стратегических направлений развития.
#научно-популярная литература
