Книга "Surface and Thin Film Analysis. A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications" является обновленным изданием бестселлера и является важным руководством для изучения темы нано- и поверхностных технологий. В ней представлен обзор и сравнение всех методов, применимых в поверхностном анализе и анализе тонких пленок, включая методы электронной, ионной, фотонной детекции и микроскопии со сканирующей зондом. В новом издании добавлены главы, посвященные таким методам, как SNOM, FIM, атомно-зондовая микроскопия (AP) и генерация суммарной частоты (SFG). В приложениях представлены сводки и сравнения методов и список поставщиков оборудования, что делает эту книгу быстрой справочной для материаловедов, аналитических химиков и специалистов в биотехнологической отрасли. По словам рецензента первого издания книги (редакторы Bubert и Jenett), "это полезный ресурс".
Электронная Книга «Surface and Thin Film Analysis. A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications» написана автором Friedbacher Gernot в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9783527636945
Описание книги от Friedbacher Gernot
Surveying and comparing all techniques relevant for practical applications in surface and thin film analysis, this second edition of a bestseller is a vital guide to this hot topic in nano- and surface technology. This new book has been revised and updated and is divided into four parts – electron, ion, and photon detection, as well as scanning probe microscopy. New chapters have been added to cover such techniques as SNOM, FIM, atom probe (AP),and sum frequency generation (SFG). Appendices with a summary and comparison of techniques and a list of equipment suppliers make this book a rapid reference for materials scientists, analytical chemists, and those working in the biotechnological industry. From a Review of the First Edition (edited by Bubert and Jenett) «… a useful resource…» (Journal of the American Chemical Society)
