Микроскопические методы исследования материалов (Эшли Кларк). 2002г.

Книга Микроскопические методы исследования материалов описывает новейшие оптические методы исследования конструкционных материалов, которые были разработаны в последние десятилетия. Авторы книги рассматривают основы оптической микроскопии и описывают классические методы, такие как методы темного поля и интерференционная микроскопия, а также новейшие и неоптические методы, такие как акустические и рентгеновские методы. Книга также описывает построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных, методы преобразования цифрового изображения на компьютере и работу конфокального лазерного сканирующего микроскопа. В книге приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения и аспирантам.

Книга Микроскопические методы исследования материалов представляет собой обширный обзор новейших методов исследования материалов с использованием оптических микроскопов. В ней подробно описывается применение классических оптических методов, таких как методы темного поля и интерференционная микроскопия, а также новых методов, включая акустические и рентгеновские. В книге рассматривается процесс построения двумерных изображений на основе трехмерных данных, а также методы обработки цифровых изображений на компьютере. Особое внимание уделено работе конфокального лазерного сканирующего микроскопа и его применению для трехмерной реконструкции структуры материалов, включая композиты. Книга будет полезна как начинающим ученым и студентам, так и опытным специалистам в области материаловедения, а также всем, кто интересуется современными методами исследования материалов.

Книга посвящена материалам и конкретно методам их изучения под микроскопом. Автор делится знаниями в области оптической микрофотографии, но освещает также другие методы, например рентгеновский и акустический. Детально разбирается процесс создания и редактирования изображения. Книга представлена в электронном виде и будет интересна ученым и студентам старших курсов.