Эта книга написана университетским профессором, который многие годы занимается исследованиями в области рентгеновской дифракции. Она основана на лекциях, которые он читал студентам-магистрантам более 20 лет. Книга демонстрирует сбалансированный подход, описывая базовые концепции и экспериментальные методы, благодаря которым рентгеновская дифракция стала непревзойденным методом для изучения структуры материалов. В книге рассматриваются как динамическая, так и кинематическая рентгеновская дифракция с единой точки зрения, при которой динамическая дифракция в приближении однократного рассеяния служит мостом между этими двумя частями.
Особое внимание уделяется фундаментальным законам, которые управляют взаимодействием рентгеновских лучей с веществом, но также подробно освещаются классические и современные применения, например, уширение линий, анализ текстуры и деформации/напряжения, рентгеновское картирование в reciprocal space, высокоразрешающая рентгеновская дифракция в пространственной и волновой областях, фокусировка рентгеновских лучей, неупругое и разрешенное по времени рентгеновское рассеяние.
Этот уникальный охват в сочетании с труднодоступной информацией об аналитических выражениях для моделирования рентгеновских дифракционных профилей в тонкопленочных гетероструктурах, взаимодействии рентгеновских лучей с фононами, когерентном рассеянии мёссбауэровского излучения и энергетически-переменной рентгеновской дифракции, делает книгу незаменимой для любого серьезного пользователя методов рентгеновской дифракции.
Компактная и самодостаточная, эта книга подходит студентам, изучающим курсы рентгеновской дифракции для специализации в области материаловедения, физики, химии или биологии. Многочисленные наглядные иллюстрации, легкий стиль изложения, а также довольно короткие и легко усваиваемые главы - все это облегчает понимание материала.
Предоставленный профессором из университета учебник написан в виде автобиографических лекций и охватывает более чем 20 лет его исследований связанных с рентгенодифракцией. В книге успешно сочетается изложение основных понятий и экспериментальных методов как динамической, так и кинематической рентгенодиффукции. Таким образом она может служить мостом между этими двумя областями. В работе акцент делается на управление фундаментальными законами взаимодействия рентгеновских лучей и материи, хотя рассматриваются и классические приложения и современные тенденции, среди которых можно выделить анализ ширины линий, анализ текстуры материала, деформацию и анализ напряжений, расчеты дифракции рентгеновских волн в пространстве и волновых функциях, фокусировка рентгеновских лучей, изучение нецентральных столкновений и времени, проведенного анализом колебаний. Уникальность этого учебника заключается в его обширности и соединении информации и аналитических формул для моделирования профилей рентгеновского излучения в тонкослойных гетероструктурах, контроля взаимодействия рентгеновских волн с колебаниями, выборочного рассеяния излучений Моссебауера и варьируемой энергии рентгеновского анализа, что делает книгу незаменимой для любого серьезного пользователя рентгенотого анализа. Небольшая по объему и ясная по содержанию, данная работа является отличным выбором для студентов, обучающихся направлениям, связанным с материаловедением, анатомией или физикойи, а также может быть удобным чтением для научных сотрудников.
Basic Concepts of Xray Diffraction, by Emil Zolotoy abko, is the textbook based on the author's lectures given for graduate students over twenty years. The importance of describing basic principles and techniques of the Xray diffraction method for the study of the structure of real materials formed the basis for this teaching material. Dynamical and kinematical aspects of Xray processes are described holistically, showing how the Xay diffraction approximated by single-scat ered dynamical waves fits between these topics. Emphasis is placed upon the fundamental laws governing waves as they interact with material while also covering their practical applications and modeling building for example texture and stress analysis, samples in k-space and high energy Xray diffusion. Included within the extensive bibliography are up-to dateanaly istiequations, results in phonon Xray couples, all resonant coherent radiography, enegry-variabl diffractometry, among other subjects. Designed to be context sensitive, the learning material aids users in different disciplines to improve their knowledge and proficiency in analyzing structures by means of Xly diffraction methods. With its concise and easily readable pace, the book is optimized for both reading by students in applied sciences, physics and chemistry taking studies focused on Xray to their various specialties.
Электронная Книга «Basic Concepts of X-Ray Diffraction» написана автором Emil Zolotoyabko в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9783527681143
Описание книги от Emil Zolotoyabko
Authored by a university professor deeply involved in X-ray diffraction-related research, this textbook is based on his lectures given to graduate students for more than 20 years. It adopts a well-balanced approach, describing basic concepts and experimental techniques, which make X-ray diffraction an unsurpassed method for studying the structure of materials. Both dynamical and kinematic X-ray diffraction is considered from a unified viewpoint, in which the dynamical diffraction in single-scattering approximation serves as a bridge between these two parts. The text emphasizes the fundamental laws that govern the interaction of X-rays with matter, but also covers in detail classical and modern applications, e.g., line broadening, texture and strain/stress analyses, X-ray mapping in reciprocal space, high-resolution X-ray diffraction in the spatial and wave vector domains, X-ray focusing, inelastic and time-resolved X-ray scattering. This unique scope, in combination with otherwise hard-to-find information on analytic expressions for simulating X-ray diffraction profiles in thin-film heterostructures, X-ray interaction with phonons, coherent scattering of Mossbauer radiation, and energy-variable X-ray diffraction, makes the book indispensable for any serious user of X-ray diffraction techniques. Compact and self-contained, this textbook is suitable for students taking X-ray diffraction courses towards specialization in materials science, physics, chemistry, or biology. Numerous clear-cut illustrations, an easy-to-read style of writing, as well as rather short, easily digestible chapters all facilitate comprehension.
