Exploring Scanning Probe Microscopy with MATHEMATICA (Dror Sarid).

Эта новая и полностью обновленная версия книги содержит не только прилагаемый компакт-диск, но и новый раздел приложений, отражающий многие прорывы в этой области за последние несколько лет. В ней представлен полный набор вычислительных моделей, описывающих физические явления, связанные с туннельной микроскопией сканированием, микроскопией с помощью атомных сил и связанными технологиями. Результатом является как прочный профессиональный справочник, так и текст продвинутого уровня, начиная с основ и переходя к новейшим методам, экспериментам и теории. В разделе, посвященном микроскопии с использованием атомных сил, автор описывает механические свойства кантилеверов, взаимодействие кантилевера с образцом и характеристики вибрации кантилевера. За этим следует глубокое изучение теоретических и практических аспектов явлений туннелирования, включая туннелирование металл-изолятор-металл и полевую эмиссию Фитчера-Нордгейма. В последней части представлены приложения, посвященные, среди прочего, микроскопии Кельвина и Рамана.

This third edition blends rigorous in-depth theory with computer-aided modeling, making it an excellent starting point for both the newcomer and the experienced researcher interested in scanning probe microscopy (SPM). During the course of this book, a single user may get familiar not only with the latest SPM developments but also with Mathematica. A companion CD-ROM contains local copies of these programs, together with many computed images. Special attention is paid to detail illustrations: graphs, tables, figures, and photographs help support a neater understanding of complicated ideas. Many recent additions or updates are presented in a new short section at the end of the chapter. It will aid the reader wishing to find out about recent and/or more specialized developments in SPM. Candidates for getting a Master's degree and/or Ph.D. may use this book as the core resource round their coursework in experimental work done using SPM and its mathematical models. It takes deserved pride of place amongst a long line of monographs and encyclopedia volumes representing major branches of microscope technology.