Книга "Two-dimensional X-ray Diffraction" является важным ресурсом для исследователей и студентов в области материаловедения, химии, физики и фармацевтики. Автор является одним из пионеров 2D рентгеновской дифракции, и в этом обновленном и расширенном издании он предоставляет полное покрытие основ этого аналитического метода, а также современных экспериментальных методов и приложений. Книга содержит информацию о соглашениях по геометрии, источнике рентгеновского излучения и оптике, двухмерных детекторах, интерпретации дифракционных данных и конфигурациях для различных приложений, таких как идентификация фаз, текстура, напряжение, анализ микроструктуры, кристалличность, анализ тонких пленок и комбинаторный скрининг. В книге также представлены многочисленные экспериментальные примеры в области материаловедения, производства и фармацевтики.
2D рентгеновская дифракция является идеальным неразрушающим аналитическим методом для изучения образцов всех видов, включая металлы, полимеры, керамику, полупроводники, тонкие пленки, покрытия, краски, биоматериалы, композиты и другие. "Two-Dimensional X-Ray Diffraction, Second Edition" является актуальным ресурсом для понимания того, как последние 2D детекторы интегрируются в дифрактометры, как получить наилучшие данные, используя 2D детектор для дифракции, и как интерпретировать эти данные. Все желающие установить 2D дифракцию в своих лабораториях найдут полезной информацию об основных физических принципах, геометрии проекций и математических выводах.
Книга содержит новые материалы во всех главах с большинством иллюстраций в полном цвете, что позволяет увидеть больше деталей в иллюстрациях и дифракционных образцах. Она также охватывает последние достижения в технологии детекторов и стратегиях сбора данных, которые привели к значительному увеличению использования двухмерных детекторов для рентгеновской дифракции. Книга предоставляет подробное описание новых инноваций в источниках рентгеновского излучения, оптике, конфигурациях систем, приложениях и алгоритмах оценки данных. Она содержит новые методы и экспериментальные примеры в анализе напряжений, текстуры, размерах кристаллов, ориентации кристаллов и анализе тонких пленок. "Two-Dimensional X-Ray Diffraction, Second Edition" является важным рабочим ресурсом для промышленных и научных исследователей и разработчиков в области материаловедения, химии, физики, фармацевтики и всех, кто использует рентгеновскую дифракцию в качестве метода характеризации. Книга будет полезна как для начинающих пользователей, так и для специалистов, техников и менеджеров лабораторий по рентгеновской дифракции, а также для разработчиков инструментов.
This up-to-dated and revised edition delves into the significance and versatility of X-ray diffractions in two dimensional, especially for the fields of materials science and chemistry; it is also valuable for students and researchers of different pharmacological schools.
#научно-популярная литература
