Дифракционный структурный анализ в 2 ч. Часть 1 2-е изд., испр. и доп. Учебное пособие для вузов (Александр Сергеевич Илюшин). 2017г.

Книга "Дифракционный структурный анализ в 2 ч. Часть 1, 2-е изд., испр. и доп." является учебным пособием для студентов высших учебных заведений. Она состоит из двух частей, в первой из которых описывается природа рентгеновских лучей, основные понятия и элементы структурной кристаллографии, теорема преобразования Фурье, рассеяние излучений атомом, а также методы дифракционного структурного анализа. Во второй части рассматривается применение синхротронного излучения для структурного анализа кристаллов, а также представлена аппаратура для дифракционных структурных исследований и применение дифракционного структурного анализа. Книга содержит большое количество иллюстративного материала, который поможет студентам лучше усвоить материалы пособия.

Дифракция:

Дифракция - это явление, при котором волна отклоняется от своего первоначального направления распространения при взаимодействии с каким-либо препятствием. Дифракцию можно наблюдать в различных областях физики, включая оптику, акустику и радиоволны.

В данной книге рассматриваются методы дифракции в кристаллографии. Кристаллография - это наука, изучающая структуру кристаллов. Кристаллы - это твердые тела, которые состоят из повторяющихся элементов, называемых атомами.

Основные понятия и элементы кристаллографии:

– атом;
– молекула;
– элемент;
– фаза;
– фазовый переход;
– сингония;
– ячейка;
– элементарная ячейка.

Рассеяние излучений:
Рассеянием излучений называется процесс взаимодействия излучения с веществом, при котором часть энергии излучения переходит в тепловую энергию вещества. Рассеяние может происходить как при поглощении, так и при отражении излучения.

Методы дифракционного анализа:

– Метод Лауэ;
– Метод Дебая-Шеррера;
– Метод Брэгга-Брентано;
– Метод Вульфа-Брэгга;
– Интерференционный метод.

Аппаратура для дифракционных исследований:

1. Дифрактометр;
2. Гониометр;
3. Гениометрический прибор;
4. Оптическая система.

Применение дифракционного анализа в кристаллографии:
Дифракционный анализ используется для определения структуры кристаллов и оценки их свойств. Например, он может быть использован для определения кристаллической структуры металлов, полупроводников и других материалов. Также он может использоваться для изучения фазовых переходов и изменения структуры материалов при изменении температуры или давления.