X-Rays in Nanoscience. Использование рентгеновских лучей в нанонауке - это современный обзор различных методов на основе рентгеновского излучения в быстроразвивающихся областях нанонауки и нанотехнологий. В книге представлены методы визуализации наноматериалов, а также методы исследования электронной структуры наноструктурированных материалов для изучения их различных свойств.
Книга написана авторами из одного из ведущих мировых центров, работающих с этими методами. В монографии представлены и обсуждены методы рентгеновской спектроскопии, рентгеновской микроскопии и рассеяния рентгеновских лучей, а также их применение в области нанонауки.
Эта систематическая коллекция передовых инструментальных методов будет полезна студентам, аспирантам и профессиональным исследователям. Книга дает актуальный обзор различных рентгеновских методов в быстроразвивающихся областях нанонауки и нанотехнологий.
This book presents an updated overview of different X-ray techniques applicable in the new field of nanosciences and nanotechnologies, emphasising methods for imaging and characterizing nanometer-sized material assemblies and also useful electronic structure information of nanoscaled materials to enhance scientific investigation. This chapter discusses a variety of technologies including: x-ray fluorescence techniques, X-ray absorption spectroscopy (XAS) and extended multiple scattering theory (eXtended Molière Theory), etc. Students and workers in science and engineering industries would appreciate these helpful details in Table of Contents, First Pages, Indexes, Tables, Figures, Tabs & Quotations.
This book will not be very familiar to you.
Электронная Книга «X-Rays in Nanoscience. Spectroscopy, Spectromicroscopy, and Scattering Techniques» написана автором Jinghua Guo в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9783527632299
Описание книги от Jinghua Guo
An up-to-date overview of the different x-ray based methods in the hot fields of nanoscience and nanotechnology, including methods for imaging nanomaterials, as well as for probing the electronic structure of nanostructured materials in order to investigate their different properties. Written by authors at one of the world's top facilities working with these methods, this monograph presents and discusses techniques and applications in the fields of x-ray scattering, spectroscopy and microscope imaging. The resulting systematic collection of these advanced tools will benefit graduate students, postdocs as well as professional researchers.
