Эта книга знакомит читателей, интересующихся областью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС), с практическими концепциями в этой области. Книга сначала знакомит читателя с языком и концепциями, используемыми в этой области, а затем показывает, как эти концепции применяются. В том числе как получают спектры, факторы, которые могут влиять на спектры (обсуждаются все начальные и конечные эффекты состояния), как выводить состав, анализируемый объем и как им управлять (включая глубинное профилирование), а также количественный анализ вместе с вычитанием фона и методологиями подгонки кривых. Это представлено в краткой, но всеобъемлющей форме, и каждый раздел подготовлен так, что их можно читать независимо друг от друга, а все уравнения представлены с использованием наиболее употребительных единиц. Большее внимание уделено пониманию/интерпретации спектров. Для полноты описания также представлено описание широко используемых приборов. Наконец, для сравнительных целей в отдельных приложениях обсуждаются некоторые дополнительные методы анализа поверхности и связанные с ними концепции.
Электронная Книга «X-ray Photoelectron Spectroscopy. An introduction to Principles and Practices» написана автором Paul van der Heide в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9781118162927
Описание книги от Paul van der Heide
This book introduces readers interested in the field of X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) to the practical concepts in this field. The book first introduces the reader to the language and concepts used in this field and then demonstrates how these concepts are applied. Including how the spectra are produced, factors that can influence the spectra (all initial and final state effects are discussed), how to derive speciation, volume analysed and how one controls this (includes depth profiling), and quantification along with background substraction and curve fitting methodologies. This is presented in a concise yet comprehensive manner and each section is prepared such that they can be read independently of each other, and all equations are presented using the most commonly used units. Greater emphasis has been placed on spectral understanding/interpretation. For completeness sake, a description of commonly used instrumentation is also presented. Finally, some complementary surface analytical techniques and associated concepts are reviewed for comparative purposes in stand-alone appendix sections.
