Книга "Secondary Ion Mass Spectrometry" является практическим справочником для тех, кто занимается методом вторичной ионной масс-спектрометрии (SIMS). Книга знакомит читателя с основами SIMS и широким спектром областей, в которых он применяется (химия, физика, геология и биология), используя актуальные иллюстрации. В ней представлены принятые основы и соответствующие модели, связанные с элементарным и молекулярным распылением и ионной эмиссией. Книга охватывает теорию и режимы работы приборов, используемых в различных формах SIMS (статический, динамический, кластерный SIMS). Она также подробно описывает, как можно собирать/обрабатывать данные, с акцентом на то, как распознавать и избегать распространенных искажений, вызванных анализом. Книга представлена максимально лаконично, и все разделы подготовлены так, чтобы их можно было читать независимо друг от друга.
Электронная Книга «Secondary Ion Mass Spectrometry» написана автором Paul van der Heide в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9781118916766
Описание книги от Paul van der Heide
Serves as a practical reference for those involved in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) • Introduces SIMS along with the highly diverse fields (Chemistry, Physics, Geology and Biology) to it is applied using up to date illustrations • Introduces the accepted fundamentals and pertinent models associated with elemental and molecular sputtering and ion emission • Covers the theory and modes of operation of the instrumentation used in the various forms of SIMS (Static vs Dynamic vs Cluster ion SIMS) • Details how data collection/processing can be carried out, with an emphasis placed on how to recognize and avoid commonly occurring analysis induced distortions • Presented as concisely as believed possible with All sections prepared such that they can be read independently of each other
