Книга "Обнаружение дефектов на наноуровне с использованием поляризованного света" описывает методы, используемые для обнаружения дефектов материалов на наномасштабе. Авторы представляют различные теории, состояния поляризации и взаимодействия света с веществом, в частности, оптические методы, использующие поляризованный свет. Комбинируя экспериментальные методы анализа поляризованного света с методами, основанными на теоретических или статистических моделях для изучения дефектов или зарытых интерфейсов мехатронных систем, авторы определяют диапазон допустимых измерений свойств углеродных нанотрубок. Комбинация теории и практических методов, представленных в этой книге, предоставляет читателю представление о текущем понимании физико-химических процессов, влияющих на свойства материалов на наноуровне.
Электронная Книга «Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light» написана автором Abdelkhalak El Hami в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9781119329657
Описание книги от Abdelkhalak El Hami
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.
