Эта новая и полностью обновленная версия книги содержит не только прилагаемый компакт-диск, но и новый раздел приложений, отражающий многие прорывы в этой области за последние несколько лет. В ней представлен полный набор вычислительных моделей, описывающих физические явления, связанные с туннельной микроскопией сканированием, микроскопией с помощью атомных сил и связанными технологиями. Результатом является как прочный профессиональный справочник, так и текст продвинутого уровня, начиная с основ и переходя к новейшим методам, экспериментам и теории. В разделе, посвященном микроскопии с использованием атомных сил, автор описывает механические свойства кантилеверов, взаимодействие кантилевера с образцом и характеристики вибрации кантилевера. За этим следует глубокое изучение теоретических и практических аспектов явлений туннелирования, включая туннелирование металл-изолятор-металл и полевую эмиссию Фитчера-Нордгейма. В последней части представлены приложения, посвященные, среди прочего, микроскопии Кельвина и Рамана.
This third edition blends rigorous in-depth theory with computer-aided modeling, making it an excellent starting point for both the newcomer and the experienced researcher interested in scanning probe microscopy (SPM). During the course of this book, a single user may get familiar not only with the latest SPM developments but also with Mathematica. A companion CD-ROM contains local copies of these programs, together with many computed images. Special attention is paid to detail illustrations: graphs, tables, figures, and photographs help support a neater understanding of complicated ideas. Many recent additions or updates are presented in a new short section at the end of the chapter. It will aid the reader wishing to find out about recent and/or more specialized developments in SPM. Candidates for getting a Master's degree and/or Ph.D. may use this book as the core resource round their coursework in experimental work done using SPM and its mathematical models. It takes deserved pride of place amongst a long line of monographs and encyclopedia volumes representing major branches of microscope technology.
Электронная Книга «Exploring Scanning Probe Microscopy with MATHEMATICA» написана автором Dror Sarid в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9783527609871
Описание книги от Dror Sarid
This new and completely updated edition features not only an accompanying CD-ROM, but also a new applications section, reflecting the many breakthroughs in the field over the last few years. It provides a complete set of computational models that describe the physical phenomena associated with scanning tunneling microscopy, atomic force microscopy, and related technologies. The result is both a solid professional reference and an advanced-level text, beginning with the basics and moving on to the latest techniques, experiments, and theory. In the section devoted to atomic force microscopy, the author describes the mechanical properties of cantilevers, atomic force microscope tip-sample interactions, and cantilever vibration characteristics. This is followed by an in-depth treatment of theoretical and practical aspects of tunneling phenomena, including metal-insulator-metal tunneling and Fowler-Nordheim field emission. The final section features applications, dealing with, among others, Kelvin and Raman probe microscopy. The self-contained presentation spares researchers valuable time spent hunting through the technical literature for the theoretical results required to understand the models presented. The Mathematica code for all the examples is included in the CD-ROM, affording the freedom to change the values and parameters of specific problems as desired, or even modify the programs themselves to suit various modeling needs.
