Книга "Дифракционный структурный анализ в 2 ч. Часть 1, 2-е изд., испр. и доп." является учебным пособием для студентов высших учебных заведений. Она состоит из двух частей, в первой из которых описывается природа рентгеновских лучей, основные понятия и элементы структурной кристаллографии, теорема преобразования Фурье, рассеяние излучений атомом, а также методы дифракционного структурного анализа. Во второй части рассматривается применение синхротронного излучения для структурного анализа кристаллов, а также представлена аппаратура для дифракционных структурных исследований и применение дифракционного структурного анализа. Книга содержит большое количество иллюстративного материала, который поможет студентам лучше усвоить материалы пособия.
Дифракция:
Дифракция - это явление, при котором волна отклоняется от своего первоначального направления распространения при взаимодействии с каким-либо препятствием. Дифракцию можно наблюдать в различных областях физики, включая оптику, акустику и радиоволны.
В данной книге рассматриваются методы дифракции в кристаллографии. Кристаллография - это наука, изучающая структуру кристаллов. Кристаллы - это твердые тела, которые состоят из повторяющихся элементов, называемых атомами.
Основные понятия и элементы кристаллографии:
– атом;
– молекула;
– элемент;
– фаза;
– фазовый переход;
– сингония;
– ячейка;
– элементарная ячейка.
Рассеяние излучений:
Рассеянием излучений называется процесс взаимодействия излучения с веществом, при котором часть энергии излучения переходит в тепловую энергию вещества. Рассеяние может происходить как при поглощении, так и при отражении излучения.
Методы дифракционного анализа:
– Метод Лауэ;
– Метод Дебая-Шеррера;
– Метод Брэгга-Брентано;
– Метод Вульфа-Брэгга;
– Интерференционный метод.
Аппаратура для дифракционных исследований:
- Дифрактометр;
- Гониометр;
- Гениометрический прибор;
- Оптическая система.
Применение дифракционного анализа в кристаллографии:
Дифракционный анализ используется для определения структуры кристаллов и оценки их свойств. Например, он может быть использован для определения кристаллической структуры металлов, полупроводников и других материалов. Также он может использоваться для изучения фазовых переходов и изменения структуры материалов при изменении температуры или давления.
Электронная Книга «Дифракционный структурный анализ в 2 ч. Часть 1 2-е изд., испр. и доп. Учебное пособие для вузов» написана автором Александр Сергеевич Илюшин в 2017 году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Русский
Серии: Авторский учебник
ISBN: 9785534043167
Описание книги от Александр Сергеевич Илюшин
Настоящее учебное пособие состоит из двух частей. В первой части показана природа рентгеновских лучей, основные понятия и элементы структурной кристаллографии, теорема преобразования Фурье, рассеяние излучений атомом, а также представлены методы дифракционного структурного анализа. Во второй части дано применение синхротронного излучения для структурного анализа кристаллов, представлена аппаратура для дифракционных структурных исследований, показано применение дифракционного структурного анализа. Книга содержит большое количество иллюстративного материала, который поможет студентам лучше усвоить материалы пособия.
