В данном учебном пособии представлены физические принципы и аппаратное оснащение для проведения рентгеноструктурного, электронного и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектральной микроанализа. Эти методы позволяют исследовать химический состав и структуру разнообразных материалов, в том числе нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей данных методов, их точности, чувствительности и пространственного разрешения. Пособие предназначено для специалистов в области исследования наноматериалов и наноструктур.
В учебном пособии описаны физические основы, методики и аппаратура методов определения характеристик материалов и нанообъектов, таких как рентгеноструктурный анализ, электронная микроскопия, растровая микроскопия и рентгеновский микроанализ. Информация в данной книге содержит все, что необходимо знать для решения широкого круга научно-исследовательских и прикладных задач.
В учебном пособии изложены современные дифракционные и профилографические методы анализа и исследования наночастиц, а также соответствующие приборы, основанные на использовании синхротронного и тормозного излучений, оптических и электронных микроскопов.
Электронная Книга «Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов» написана автором Юрий Ягодкин в 2009 году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Русский
Описание книги от Юрий Ягодкин
В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности.
