"Conductive Atomic Force Microscopy" - это первая книга, которая обобщает применение метода CAFM как наиболее важного метода в изучении электронных свойств материалов и устройств на наномасштабе. Для обеспечения глобальной перспективы главы написаны ведущими исследователями и прикладными учеными со всего мира и охватывают новые стратегии, конфигурации и настройки, где с помощью CAFM будет получена новая информация. Благодаря своему значительному содержанию и логической структуре, это ценный справочник для исследователей, работающих с CAFM, или планирующих использовать его в своих собственных исследованиях.
Первая книга, представляющая все виды применения атомной силы проводимости в качестве самого важного метода исследования электронных свойств материалов и устройств на наноуровне. Частные главы написаны ведущими учеными и исследователями всего мира, и они охватывают новые стратегии, конфигурации и системы, где будет получена новая информация с помощью атомно-силового микроскопа проводимости. С обширной информацией и логичной структурой, это ценный справочник для исследователей, практикующих атомную силу проводимости, или планирующих ее использовать в своей области исследования.
Электронная Книга «Conductive Atomic Force Microscopy» написана автором Группа авторов в году.
Минимальный возраст читателя: 0
Язык: Английский
ISBN: 9783527699780
Описание книги от Группа авторов
The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale. To provide a global perspective, the chapters are written by leading researchers and application scientists from all over the world and cover novel strategies, configurations and setups where new information will be obtained with the help of CAFM. With its substantial content and logical structure, this is a valuable reference for researchers working with CAFM or planning to use it in their own fields of research.
